全自動便攜互感器測試儀

　

 一.互(hu)感器測試儀設計用途

設計用(yong)于對保護(hu)類(lei)、計量(liang)類(lei)CT/PT進行(xing)自動測試，適用(yong)于實驗室也(ye)適用(yong)于現場(chang)檢(jian)測。

二(er).互感器測試儀(yi)參考標準

GB 1207-2006、GB 1208-2006

三.LYFA3000全自動便攜互感器測試儀主要特征

• 支持(chi)檢(jian)測(ce)CT和PT

• 滿足 GB1207、GB1208等規(gui)程(cheng)要求.

• 無(wu)需外接其它輔助(zhu)設備，單(dan)機(ji)即可完成(cheng)所有檢(jian)測項目.

• 自帶微(wei)型快速打印(yin)機、可直接現(xian)場打印(yin)測試結果.

• 操(cao)作簡(jian)便，帶(dai)有智(zhi)能提(ti)示(shi)，使(shi)用戶(hu)更易(yi)上手操(cao)作。

• 大屏(ping)幕(mu)液晶，圖形(xing)化(hua)顯示接(jie)口.

• 按(an)規程自動給出CT/PT（勵磁）拐點值.

• 自動(dong)給出5%和10%誤差曲線.

• 可(ke)保存3000組測試(shi)資料，掉電(dian)后不丟(diu)失(shi).

• 支持U盤轉存資料，可以通過標準的PC進行讀取，并生(sheng)成WORD報告.

• 小巧(qiao)輕(qing)便≤22Kg，非常利于現場測試.

四、LYFA3000全自動便攜互感器測試儀主要測試功能：（見表1）

表1

五、LYFA3000主要技術參數：（見表2）

表2

5.1．工作條件要求

輸入電壓 220Vac±10%、額定頻率 50Hz；

測試儀(yi)應該由帶有保(bao)護接(jie)地(di)的電源插座供電。如果保(bao)護地(di)的連接(jie)有問題，或者電源沒有對地(di)的隔離連接(jie)，仍然(ran)可以使用(yong)測試儀(yi)，但是我們不保(bao)證安全；

參(can)數對(dui)應的環境溫度是23℃±5℃；

保(bao)證值在出廠校驗后一年(nian)內有效。

六、LYFA3000硬件結構

6.1．面板結構: （圖(tu)1）

圖1

6.2．面板注釋(shi)：

1 —— 設備接地端(duan)子

2 ——U盤轉存口(kou)

3 ——打(da)印機

4 ——液(ye)晶(jing)顯(xian)示器(qi)

5 ——控制器(qi)

6 ——過流保護（功率）開關

7 ——P1、P2：CT變比/極性試驗時，大(da)電(dian)流(liu)輸(shu)出端口(kou)

8 ——S1、S2：CT變比/極性試(shi)驗時(shi)，二次側(ce)接入端口(kou)

9 ——K1、K2：CT/PT勵磁（伏安）特性(xing)試驗時，電(dian)壓輸出端口

10 ——A、X ：PT變(bian)比/極性時，一次(ci)側接入端(duan)口(kou)

11 ——a、x ：PT變(bian)比/極(ji)性時，二次側(ce)接入端口

12 ——D1、D2 ：CT/PT 二(er)次直阻測試(shi)時(shi)，二(er)次側(ce)接入端(duan)口（選配）

13 ——主機電源開關

14 ——主機電源插座(zuo)

15 、16、17、18、19、20——主要(yao)功能接線簡(jian)圖(tu)

七、LYFA3000操作方式及主界面介紹

7.1、控制器使用方(fang)法(fa)

控制(zhi)(zhi)器(qi)有(you)三(san)(san)種(zhong)操作(zuo)狀態：“左旋”，“右旋”，“按(an)下”。使(shi)用(yong)控制(zhi)(zhi)器(qi)的這三(san)(san)種(zhong)操作(zuo)可(ke)以方便的用(yong)來移動光(guang)標、輸入(ru)數據和選定項目等。

7.2、主(zhu)菜單 （見圖2）

開機之后(hou)默(mo)認進(jin)(jin)入(ru)(ru)CT測試，CT測試主菜單共有(you)“勵磁”、“負荷(he)”、“直阻”、“變比極性”、“角差比差”、“交流(liu)耐壓”、“一次(ci)通流(liu)” 、“數據查詢”、“退磁” 、“PT”10種選項(xiang)，可以使用旋轉控制器進(jin)(jin)行(xing)選擇(ze)和設置。如(ru)圖2所示(shi)，當“類型”后(hou)面為帶(dai)有(you)灰色背(bei)景的(de) CT 時，表示(shi)當前為CT測試。旋轉光標到“PT”并按下，則進(jin)(jin)入(ru)(ru)PT測試界面，如(ru)圖3。

PT測試(shi)主菜(cai)單共有“勵磁”、“負荷”、“直(zhi)阻”、“變比極性”、“角差(cha)比差(cha)”、“交流耐壓”、“數據查(cha)詢”、“退(tui)磁” 、“CT”9種選(xuan)項，可以(yi)使(shi)用旋轉控制器進行選(xuan)擇和(he)設(she)置(zhi)。如圖(tu)3所(suo)示，當(dang)“類型”后面為(wei)帶(dai)有灰色背景的 PT 時表示當(dang)前為(wei)PT測試(shi)。旋轉光標到(dao)“CT”并按下，則進入CT測試(shi)界面，如圖(tu)2。

圖2， CT主界面                         圖3，PT主界面

八、CT測試

進(jin)行電流互感器測試(shi)時，請移動光(guang)標至CT，并選擇相應測試(shi)選項(xiang)。

CT勵磁（伏(fu)安）特性測試

在CT主界面(mian)中，選(xuan)擇“勵磁(ci)” 選(xuan)項(xiang)后，即進入測試界面(mian)如圖4。

（1）、參數設置：

勵磁電(dian)流：設(she)置(zhi)(zhi)范(fan)圍（0—20A）為儀器輸出的高設(she)置(zhi)(zhi)電(dian)流，如(ru)果實(shi)驗中(zhong)電(dian)流達到設(she)定值，將會自動停止(zhi)升流，以免損壞設(she)備(bei)。通常電(dian)流設(she)置(zhi)(zhi)值大于等(deng)于1A，就可以測試(shi)到拐點值。

勵磁電(dian)壓(ya)：設(she)置(zhi)(zhi)范圍(wei)（0—1000V）為儀器(qi)輸出的高設(she)置(zhi)(zhi)電(dian)壓(ya)，通常(chang)電(dian)壓(ya)設(she)置(zhi)(zhi)值稍大于拐點電(dian)壓(ya)，這樣可以使曲(qu)線(xian)(xian)顯示(shi)的比例更(geng)加協調，電(dian)壓(ya)設(she)置(zhi)(zhi)過(guo)高，曲(qu)線(xian)(xian)貼(tie)近(jin)Y軸，電(dian)壓(ya)設(she)置(zhi)(zhi)過(guo)低，曲(qu)線(xian)(xian)貼(tie)近(jin)X軸。如果實驗中電(dian)壓(ya)達到設(she)定值，將會自(zi)動停止升壓(ya)，以免損壞設(she)備。

（2）、試驗(yan)：

接(jie)(jie)線(xian)圖(tu)見（圖(tu)5），測試(shi)儀的(de)(de)K1、K2為電(dian)壓輸出(chu)端，試(shi)驗時將K1、K2分(fen)別接(jie)(jie)互感器的(de)(de)S1、S2（互感器的(de)(de)所有(you)端子的(de)(de)連線(xian)都應斷開(kai)）。檢查接(jie)(jie)線(xian)無(wu)誤后，合(he)上功(gong)率開(kai)關，選擇“開(kai)始”選項，即開(kai)始測試(shi)。

試(shi)驗時(shi)，光標(biao)在(zai)“停(ting)止”選項上，并(bing)不停(ting)閃爍，測試(shi)儀(yi)開(kai)始自動升壓、升流(liu)，當測試(shi)儀(yi)檢測完畢后，試(shi)驗結(jie)束并(bing)描繪出伏(fu)安特性曲線圖(tu)（如圖(tu)6）。

注意：圖4中“校(xiao)準”功能(neng)：主要(yao)用于查看設備輸出電(dian)壓電(dian)流(liu)值，不用于互感器功能(neng)測(ce)試，詳(xiang)情(qing)見附錄(lu)一。

圖(tu)4，CT勵磁特性測試界面             圖(tu)5， CT勵磁特性接線(xian)圖(tu)

圖(tu)6，CT勵磁曲線圖(tu)                     圖(tu)7，勵磁數據圖(tu)

圖(tu)8 ，誤差(cha)曲線參數設置界面                 圖(tu)9，誤差(cha)曲線圖(tu)

2）、伏安特性（勵磁(ci)）測試結(jie)果操作(zuo)說明

試驗結束后，屏(ping)幕顯示出伏(fu)安特性(xing)測(ce)試曲線（見圖6）。該界面上各操作功能如下：

打(da)    印(yin)：控制器選擇“打(da)印(yin)”后(hou)，先后(hou)打(da)印(yin)伏安特性（勵(li)磁）曲線、數(shu)據，方便(bian)用戶做(zuo)報告(gao)用。同時減少更換打(da)印(yin)紙的(de)頻率(lv)，節省(sheng)時間，提高效率(lv)。

勵(li)磁數據(ju)(ju)(ju)：將光標移動(dong)至“勵(li)磁數據(ju)(ju)(ju)”選(xuan)(xuan)項選(xuan)(xuan)定，屏幕上將顯示(shi)伏(fu)安特(te)性試驗的(de)測試數據(ju)(ju)(ju)列表（見(jian)圖7）。按下“退出(chu)”鍵即退回到(dao)伏(fu)安特(te)性試驗曲(qu)線界(jie)面，控制器即可實(shi)現數據(ju)(ju)(ju)的(de)上下翻(fan)。當頁面翻(fan)轉不(bu)動(dong)時(shi)，則已到(dao)達后一頁。

保(bao)    存(cun)：控制器移動(dong)至“保(bao)存(cun)”選項，按(an)下即(ji)可(ke)將(jiang)當前(qian)所測數據(ju)保(bao)存(cun)，保(bao)存(cun)成功后，屏(ping)幕上顯(xian)示(shi)“保(bao)存(cun)完畢”。成功保(bao)存(cun)后，用戶如果再(zai)按(an)下“保(bao)存(cun)”鍵，程序會(hui)自動(dong)分辨(bian)，不保(bao)存(cun)相同的測試記(ji)錄。并且可(ke)在數據(ju)查詢菜單中進行查看。

誤(wu)(wu)差(cha)曲(qu)線：在圖(tu)6的(de)界面(mian)中，將光標移至“誤(wu)(wu)差(cha)曲(qu)線”選(xuan)定后，屏上將顯示伏安特性(xing)試驗的(de)誤(wu)(wu)差(cha)曲(qu)線的(de)設置（見圖(tu)8）。選(xuan)定后計算出(chu)的(de)誤(wu)(wu)差(cha)曲(qu)線如圖(tu)9。

打印設定：光標移(yi)動至此(ci)選項，按(an)(an)下即進(jin)入打印設置界面（圖10），可根據要求選擇“默認”（程序按(an)(an)照(zhao)一定步(bu)進(jin)打印大量(liang)電壓電流值），或選擇“自設定”（程序會按(an)(an)照(zhao)表格中(zhong)的10個(ge)電流值進(jin)行打印）。

以下(xia)四項(xiang)(xiang)為誤差曲線(xian)計算時的(de)設置項(xiang)(xiang)：

額定負荷(he) ：CT二次側(ce)額定負荷(he)。

額(e)定二(er)(er)次 ：CT的二(er)(er)次側(ce)額(e)定電流

ALF ：準確限值系數，如(ru)：被測CT銘牌為(wei)“5P10”，“10”即為(wei)限制系數。

5% ：自動(dong)計(ji)算(suan)出5%誤差(cha)曲(qu)線數據并顯(xian)示誤差(cha)曲(qu)線。

10% ：自動計算出10%誤差曲(qu)線(xian)數據并(bing)顯示誤差曲(qu)線(xian)。

誤(wu)差曲線界面中有三(san)個選(xuan)項(xiang)：

打(da)印 ：可打(da)印出誤(wu)差(cha)曲線圖及(ji)數據(ju)；

數據(ju) ：可顯示出誤差曲(qu)線相關(guan)數據(ju)，查看方(fang)式同伏(fu)安特性數據(ju)。

退出(chu) ：可返(fan)回上(shang)一(yi)層菜單。

圖10，打印(yin)設(she)置界面                 圖11，退磁界面

2、退磁試(shi)驗

1）參(can)數(shu)設置(zhi)：

在(zai)CT主界面中，選(xuan)擇“退磁”后，進入(ru)測試界面見圖(tu)11，設置 二次側額(e)定(ding)電流： 1A或5A。

2）試驗：

接(jie)線(xian)圖見（圖5），測試(shi)儀的K1、K2為(wei)電壓輸出端(duan)(duan)，試(shi)驗時將K1、K2分別(bie)接(jie)互感(gan)器(qi)(qi)的S1、S2（互感(gan)器(qi)(qi)的所有端(duan)(duan)子的連線(xian)都應斷開(kai)(kai)）。檢查接(jie)線(xian)無誤后，合上功率開(kai)(kai)關，選擇“開(kai)(kai)始(shi)”選項，即開(kai)(kai)始(shi)退(tui)磁。

退磁過(guo)程中(zhong)光(guang)標在“開始”選項上不(bu)停(ting)閃爍，直至試驗完(wan)(wan)畢，裝置會自動停(ting)止，界面提(ti)示(shi)“退磁完(wan)(wan)畢”。

3、CT變比極(ji)性試驗

1）參數(shu)設置：

在CT主界面中，選擇“變比極性(xing)”后，進入測(ce)試(shi)界面見圖12，設置一(yi)次側測(ce)試(shi)電流(liu)： 0 ～600A，測(ce)試(shi)儀P1、P2端子輸出的大電流(liu)；

二次側(ce)額定電流： 1A或5A。

2）試驗(yan)：

接(jie)線(xian)圖見圖13，CT一次側(ce)接(jie)P1、P2，CT二(er)次側(ce)接(jie)S1、S2，不(bu)檢測的二(er)次繞組要短接(jie)，設置二(er)次側(ce)額定(ding)電流(liu)及編號后，合上功率開關，選(xuan)(xuan)擇“開始”選(xuan)(xuan)項，按下控(kong)制器，試驗即開始。

試(shi)(shi)驗(yan)過程中(zhong)光標在(zai)“開始”選(xuan)項上不(bu)停(ting)(ting)閃(shan)爍(shuo)，直至試(shi)(shi)驗(yan)完(wan)畢退出自動測試(shi)(shi)界面，或按(an)下控制器人為(wei)中(zhong)止試(shi)(shi)驗(yan)，裝(zhuang)置測試(shi)(shi)完(wan)畢后會自動停(ting)(ting)止試(shi)(shi)驗(yan)，試(shi)(shi)驗(yan)完(wan)成后，即顯示變比極(ji)性測試(shi)(shi)結果。可(ke)以選(xuan)擇(ze) “保存” 、“打印”及“退出”選(xuan)項進行下一步操(cao)作。

儀器(qi)本(ben)身的(de)同色端子為同相端，即P1接CT的(de)P1，S1接CT的(de)S1時，極性的(de)測試結果(guo)為減極性。

圖(tu)12，CT變比極(ji)性(xing)(xing)測試界(jie)面(mian)         圖(tu)13，CT變比極(ji)性(xing)(xing)（角(jiao)差比差）接(jie)線(xian)圖(tu)

4、CT角差(cha)比差(cha)試驗

1）參數設置：

在CT主界(jie)(jie)面中，選擇“角差比差”后，進入測試界(jie)(jie)面（圖14），（注(zhu)：應參(can)照互(hu)感器(qi)銘(ming)牌(pai)上的實際額定變比值(zhi)設(she)定）

額定(ding)(ding)一次(ci)：CT的一次(ci)額定(ding)(ding)電(dian)流：0～25000A

額定二次： 5A/1A。

額定負荷：互(hu)感(gan)器(qi)容量。

實(shi)際(ji)負荷：根據額定負載(zai)的設(she)定，可自動計(ji)算(suan)滿(man)載(zai)與輕載(zai)兩種狀態值（輕載(zai)為(wei)滿(man)載(zai)的25％）。

2）試驗：

接(jie)線圖見圖13，CT一(yi)次(ci)側(ce)接(jie)P1、P2，CT二(er)次(ci)側(ce)接(jie)S1、S2。設置(zhi)參數(shu)并(bing)檢查接(jie)線無(wu)誤后，合上(shang)功率開關，選擇“開始(shi)”選項，按(an)下控(kong)制器，試(shi)驗即(ji)開始(shi)。

試驗過(guo)程中通過(guo)按下控制器可終止試驗，測試完畢后(hou)自動計算出一次側與二次側的(de)相位角差，實際測的(de)變比值與用戶設定的(de)額定變比的(de)百(bai)分比差（圖15）。可以選擇 “保存(cun)” 、“打印”及(ji)“退出”選項進行下一步操作。

圖(tu)14 ，CT角差(cha)比(bi)差(cha)測試(shi)界(jie)(jie)面         圖(tu)15，CT角差(cha)比(bi)差(cha)測試(shi)結(jie)果界(jie)(jie)面

5、CT一次通(tong)流試驗

1）參數(shu)設置：

在CT主界面中(zhong)，選擇“一次通流”后(hou)，進(jin)入(ru)測試(shi)界面（圖16），設置(zhi)好設定電流值(zhi)：0～600A。

2）試驗(yan)：

接線圖(tu)見圖(tu)17，CT一次側接P1、P2，CT二(er)次側接二(er)次負(fu)載。設置好通流(liu)電(dian)流(liu)后，合上功率開(kai)(kai)關，旋轉控制器將光標移(yi)動至“開(kai)(kai)始”選項，按下(xia)控制器，試驗即開(kai)(kai)始，電(dian)流(liu)保(bao)持時(shi)間以進(jin)度(du)條顯示(0～200A:保(bao)持10分(fen)鐘；大于200A～300A：保(bao)持2分(fen)鐘;大于300A：保(bao)持3秒鐘)。

圖16、CT一次(ci)通(tong)(tong)流測試界面             圖17、CT一次(ci)通(tong)(tong)流接(jie)線(xian)圖

CT交流耐壓試(shi)驗

1）參(can)數(shu)設置：

在CT主(zhu)界(jie)面(mian)中，選(xuan)擇(ze)“交流(liu)耐(nai)壓”后，進入(ru)測(ce)試(shi)界(jie)面(mian)（圖(tu)18），設置(zhi)好設定電壓值：0～1000V。

2）實驗：

接(jie)線圖見圖19，被測(ce)CT二次(ci)側短接(jie)與測(ce)試(shi)儀電壓輸出口(kou)(kou)K2連接(jie)，電壓輸出口(kou)(kou)另一端K1連接(jie)互感器(qi)(qi)外(wai)殼(ke)(ke)。檢查接(jie)線完成后，合(he)上功(gong)率(lv)開關(guan)，選擇(ze) “開始”選項，按下即開始升壓，電壓保(bao)持時(shi)間默認為1分鐘(zhong)，測(ce)試(shi)過程中，儀器(qi)(qi)內部對互感器(qi)(qi)二次(ci)繞組(zu)與外(wai)殼(ke)(ke)之間的漏電流(liu)實時(shi)檢測(ce)，如(ru)果發現電流(liu)迅速增加，將會自(zi)動回零，頁(ye)面會顯示“不合(he)格”。

圖(tu)18，CT交(jiao)流耐壓測(ce)試界面           ;圖(tu)19，CT交(jiao)流耐壓接線圖(tu)

7、CT負荷試驗

參數設置(zhi)：

在(zai)CT測試主界(jie)面(mian)中，選擇進入“負荷”試驗界(jie)面(mian)（如圖(tu)20），設置二(er)次側(ce)額定(ding)電(dian)流(liu)： 1A或5A。

線(xian)電(dian)阻：只在測(ce)試負載箱時(shi)使用（按照負載箱銘牌(pai)設(she)定）

試驗(yan)：

測(ce)試(shi)(shi)儀的K1、K2為電(dian)壓輸出端，參照(zhao)圖(tu)21進(jin)行(xing)(xing)接(jie)線，將被測(ce)負荷（負載）接(jie)測(ce)試(shi)(shi)儀的K1、K2端，檢查(cha)接(jie)線無誤后，選擇(ze)“開始”即(ji)(ji)開始試(shi)(shi)驗，試(shi)(shi)驗完成后，即(ji)(ji)顯示負荷性測(ce)試(shi)(shi)結果，可以選擇(ze) “保存” 、“打印”及“退出”選項進(jin)行(xing)(xing)下一步操作。

圖20，CT二(er)次負(fu)荷測(ce)試界面        圖21，CT二(er)次負(fu)荷接線圖

8、直阻測試：

1）、校零：

在(zai)(zai)CT測試(shi)主界面(mian)中，選擇進(jin)入(ru)“直阻(zu)”試(shi)驗界面(mian)（如圖22），試(shi)驗前應先對測試(shi)用導線(xian)進(jin)行校(xiao)(xiao)零，在(zai)(zai)CT主界面(mian)顯示菜(cai)單上通過控制器選中 直阻(zu)測試(shi)項，進(jin)入(ru)直阻(zu)測試(shi)界面(mian)并選擇“校(xiao)(xiao)零”, 校(xiao)(xiao)零前將測試(shi)導線(xian)的(de)線(xian)夾對接（測試(shi)線(xian)短接）（圖23），然(ran)后(hou)進(jin)行校(xiao)(xiao)零，校(xiao)(xiao)零完(wan)成后(hou)，界面(mian)提(ti)示“校(xiao)(xiao)零完(wan)畢(bi)”。

2）、試驗：

校零結束后(hou)，參照(zhao)圖24接(jie)好(hao)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)線，測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)儀的D1、D2接(jie)被測(ce)(ce)繞組，選(xuan)中 “開始(shi)” 鍵即(ji)開始(shi)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)，試(shi)(shi)(shi)驗完(wan)成后(hou)，即(ji)顯示直阻(zu)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)結果，可以選(xuan)擇 “保(bao)存” 、“打印”及(ji)“退出”選(xuan)項進行下一步操作。

圖(tu)(tu)22，直(zhi)阻(zu)測試界面(mian)                圖(tu)(tu)23，導線阻(zu)值清零接線圖(tu)(tu)

圖24，直阻測(ce)試接(jie)線(xian)圖

9.PT測試

進(jin)行電壓互(hu)感(gan)器(qi)功能測試時，請移(yi)動光標至PT，并選擇相應測試選項。

1、PT勵磁特性測試

1)、參數設(she)置

在PT測試(shi)主界(jie)面(mian)中(zhong)，選擇進入“勵磁”試(shi)驗界(jie)面(mian)（如圖25），勵磁電流(liu)(liu)（0～20A）：輸(shu)出電流(liu)(liu)為儀器輸(shu)出的高設(she)置電流(liu)(liu)，如果試(shi)驗中(zhong)電流(liu)(liu)達(da)到設(she)定值，將(jiang)會自動停止升(sheng)流(liu)(liu)。通常1A即可測試(shi)出拐點值。

勵磁電壓：100V、100/√3、100/3、150V、220V、350V。

2）、試驗：

參照圖(tu)26接(jie)(jie)線，測試儀(yi)的為(wei)電(dian)壓輸出端，試驗時將K1、K2分(fen)別接(jie)(jie)互感(gan)器(qi)的a、x ，電(dian)壓互感(gan)器(qi)的一次(ci)繞組的零位端接(jie)(jie)地。檢(jian)查接(jie)(jie)線無誤(wu)后(hou)(hou)，合上功率開(kai)關，選(xuan)項“開(kai)始” 選(xuan)項后(hou)(hou)，即(ji)開(kai)始測試。

試驗時(shi)，光標(biao)在“開始(shi)”選項(xiang)上，并(bing)不(bu)停(ting)閃(shan)爍，測試儀(yi)(yi)開始(shi)自(zi)動升壓、升流，當測試儀(yi)(yi)檢測完畢后，試驗結束并(bing)描繪出伏(fu)安特(te)性(xing)曲線(xian)圖。

圖25，PT勵(li)磁(ci)特(te)性(xing)參數設置界面(mian)            圖26，PT勵(li)磁(ci)特(te)性(xing)接線圖

3）、PT（勵磁）測試結果操作說明(ming)

請(qing)參(can)考8頁CT測試(shi)結果說(shuo)明

PT退磁試驗

圖27，PT退(tui)磁界面(mian)

1)、參(can)數設置

在(zai)PT測試(shi)主界面(mian)中(zhong)，選擇進入“退磁(ci)”試(shi)驗界面(mian)（如圖27），設置額定二(er)次電(dian)壓值：100V、100/√3、100/3、150V、220V、350V。

2）、試(shi)驗(yan)：

參照(zhao)圖(tu)26接線，測試儀的(de)為電(dian)壓輸出端(duan)，試驗(yan)時(shi)將(jiang)K1、K2分別接互感器的(de)a、x ，電(dian)壓互感器的(de)一(yi)次繞組的(de)零(ling)位端(duan)接地。檢(jian)查接線無誤(wu)后(hou)，合上(shang)功率(lv)開關，選(xuan)項(xiang)(xiang)“開始(shi)” 選(xuan)項(xiang)(xiang)后(hou)，即開始(shi)退磁。

退(tui)磁過程中時，光標在(zai)“開始(shi)”選項上，并(bing)不(bu)停閃爍，當測(ce)試(shi)儀檢測(ce)完畢后，，裝置退(tui)磁會自(zi)動停止，界面(mian)提示“退(tui)磁完畢”。

3、PT變比(bi)極性試驗

1）參數設置：測試界面見圖28。

一(yi)次：0～1000V。

二次：100V、100/√3、100/3、150V、220V。

2）開始試驗(yan)：

參(can)照圖29進行接線，PT一次(ci)側接A、X，PT二次(ci)側接a、x。設(she)置二次(ci)側額(e)定電壓及編號(hao)后，合上(shang)功率開(kai)關，選擇 “開(kai)始(shi)”選項(xiang)，按下控制器，試驗即(ji)開(kai)始(shi)。

試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)過程中光標在“開始”選(xuan)項(xiang)上不停閃爍，直至試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)完畢退出(chu)測(ce)試(shi)(shi)(shi)界面，或按(an)下控制器(qi)人(ren)為(wei)中止試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)，試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)完成后，即(ji)顯示變比極性測(ce)試(shi)(shi)(shi)結果。可(ke)以(yi)選(xuan)擇 “保存” 、“打印”及“退出(chu)”選(xuan)項(xiang)進行下一步操作。

儀器本身的(de)(de)同色端(duan)子為同相端(duan)，即A接PT的(de)(de)A，X接PT的(de)(de)X時，極(ji)性的(de)(de)測(ce)試結果為減(jian)極(ji)性。

圖(tu)(tu)28，PT變比(bi)(bi)極性(xing)測試界面     圖(tu)(tu)29，PT變比(bi)(bi)極性(xing)（角差比(bi)(bi)差）接(jie)線圖(tu)(tu)

4、PT角(jiao)差(cha)比差(cha)試(shi)驗

1）參數設置：

在PT測試(shi)主界(jie)面(mian)中，選(xuan)擇進入(ru)“角差(cha)比差(cha)”試(shi)驗界(jie)面(mian)（如圖30），（注：應(ying)參照互感(gan)器銘牌上的實際額(e)定變(bian)比值設定）

額定(ding)一次： 3～500KV

額定二次： 100V、100/√3、100/3、150V、220V

額定負荷：互感器容量(liang)。

實際負荷：根(gen)據(ju)額定(ding)負載(zai)的設定(ding)，可自動計算滿(man)(man)載(zai)與輕載(zai)兩種狀態值（輕載(zai)為滿(man)(man)載(zai)的25％）。

2）試驗：

參(can)照(zhao)圖(tu)29進行(xing)接(jie)(jie)線，PT一次側接(jie)(jie)A、X，CT二次側接(jie)(jie)a、x。設置參(can)數(shu)后，旋轉(zhuan)控制器將(jiang)光標移動至“開始”選項，按下(xia)控制器，試驗即(ji)開始。

試驗過程中通過按下(xia)控制(zhi)器可(ke)終止試驗，測(ce)試完畢(bi)后自動計算出(chu)一次(ci)側(ce)與(yu)(yu)二次(ci)側(ce)的(de)相位角差(cha)(cha)，實際測(ce)的(de)變(bian)比值與(yu)(yu)用戶設定(ding)的(de)額定(ding)變(bian)比的(de)百分比差(cha)(cha)（圖31）。按下(xia) “打印”即可(ke)打印出(chu)測(ce)試結果(guo)， “保(bao)存(cun)”即可(ke)保(bao)存(cun)測(ce)試結果(guo)， “退出(chu)”可(ke)返回至參數設置菜單。如果(guo)顯(xian)示均(jun)為9，則說明誤差(cha)(cha)超出(chu)顯(xian)示范圍，請檢查設定(ding)值。

圖(tu)30 ，PT角(jiao)差(cha)比(bi)差(cha)測試(shi)界(jie)面(mian)       圖(tu)31，PT角(jiao)差(cha)比(bi)差(cha)測試(shi)結果(guo)界(jie)面(mian)

5、PT交流耐壓試驗

1）.參數設置(zhi)：

在PT測試主界面中(zhong)，選擇(ze)進入“交(jiao)流耐壓(ya)”試驗界面（如圖32），設置好(hao)設定電壓(ya)值：0～1000V。

2）.實驗：

參(can)照圖33接(jie)(jie)(jie)線(xian)，被(bei)測(ce)(ce)PT二次(ci)側短接(jie)(jie)(jie)與測(ce)(ce)試(shi)儀電壓輸出(chu)口(kou)(kou)K2連(lian)接(jie)(jie)(jie)，電壓輸出(chu)口(kou)(kou)另一端K1連(lian)接(jie)(jie)(jie)互(hu)感器外殼。檢查(cha)接(jie)(jie)(jie)線(xian)完成后，合上功(gong)率開(kai)關(guan)，選擇 “開(kai)始”選項，按下(xia)即(ji)開(kai)始升壓，電壓保持時(shi)間(jian)默認為1分(fen)鐘，測(ce)(ce)試(shi)過程中，儀器內部對互(hu)感器二次(ci)繞組與外殼之間(jian)的漏電流實時(shi)檢測(ce)(ce)，如果發現電流迅速增加，將會自動(dong)回零(ling)，頁面會顯示測(ce)(ce)試(shi)異常。

圖(tu)32，PT交(jiao)流(liu)耐壓(ya)測試界面              圖(tu)33，PT交(jiao)流(liu)耐壓(ya)接線(xian)圖(tu)

6、PT負荷試驗

1）.參數(shu)設置：

在(zai)PT測試(shi)主(zhu)界面(mian)中，選擇進入“負荷”試(shi)驗界面(mian)（如圖34），設置額定二次電壓值：100V、100/√3、100/3、150V、220V。

2）.試驗：

測(ce)(ce)試(shi)儀的K1、K2為電壓輸出端(duan)，參照(zhao)圖35進行接(jie)線，將(jiang)被測(ce)(ce)負荷(he)(he)（負載(zai)）接(jie)測(ce)(ce)試(shi)儀的K1、K2端(duan)，檢查接(jie)線無誤后(hou)，合上功(gong)率(lv)開關，選(xuan)擇“開始”即(ji)開始試(shi)驗，試(shi)驗完(wan)成后(hou)，即(ji)顯示負荷(he)(he)性測(ce)(ce)試(shi)結(jie)果，可(ke)以選(xuan)擇 “保存” 、“打印”及“退(tui)出”選(xuan)項(xiang)進行下一步操作。

圖34，PT二(er)次(ci)負荷測試界(jie)面      ;      圖35，PT二(er)次(ci)負荷接線圖

7、直阻測試：

請參照第14頁CT直(zhi)阻(zu)測試。

十.數據查詢(xun)

在CT/PT測試主界面(mian)中，選擇進入(ru)“數據查(cha)詢”試驗界面(mian)（如圖36），根據需要選擇“勵(li)磁”、“負荷”、“直阻”、“變比(bi)極性”、“角差比(bi)差”、“退出”等測試選項(xiang)，選定測試項(xiang)目(mu)后，進入(ru)圖39測試界面(mian)，顯(xian)示儀器中該項(xiang)目(mu)下所保存(cun)的(de)的(de)測試結果，可以選擇 “上頁” 、“下頁”、“轉存(cun)”、“退出”、“清除”選項(xiang)進行相應(ying)操作。

轉(zhuan)存時，插上U盤(pan)(pan)至測(ce)(ce)試儀通(tong)訊口“USB”，在圖37中，點擊“轉(zhuan)存”則會將當前(qian)頁面(mian)下(xia)所顯(xian)示(shi)的(de)測(ce)(ce)試記錄轉(zhuan)存進入U盤(pan)(pan)之中。每條記錄所用時間(jian)約2秒鐘，轉(zhuan)存結束后，界面(mian)提示(shi)“轉(zhuan)存完畢”。

圖36                                 圖37

十一.PC機操作軟件使(shi)用(yong)說明

將(jiang)配套光(guang)盤放入計算機光(guang)驅中，解壓(ya)“軟件”至C盤根目錄。

11.2首先(xian)，安裝“wic_x86_chs.exe”文件，其次，安裝“dotNetFx40_Full_x86_x64.exe”軟(ruan)件，默認安裝地址即可。

11.3安(an)裝完畢后，打開“伏(fu)安(an)特性”文件(jian)夾，選(xuan)擇(ze)打開“VATeXing.exe”操(cao)作軟件(jian)，如(ru)圖(tu)38即為(wei)上位機操(cao)作軟件(jian)。

11.4在“VATeXing.exe”操(cao)作軟件(jian)中(zhong)，下方選擇(ze)互感器種(zhong)類“CT”或“PT”，應用語言“中(zhong)文”或“英文”。

11.5如需生成(cheng)報告格式文(wen)件，必須載入(ru)試驗結(jie)果數據，具(ju)體操作方法(fa)如下(xia)：

a）、將存(cun)儲(chu)試驗數(shu)據的U盤(pan)連接至計算機。

b）、在圖38中(zhong)選(xuan)擇(ze)打開“選(xuan)擇(ze)文(wen)件”，出現圖39操作窗口(kou)，在圖39中(zhong)可(ke)根據需要載入所需文(wen)件。

c）、試(shi)驗結(jie)果(guo)(guo)數(shu)(shu)(shu)據(ju)說明：以(yi)“A”為(wei)(wei)(wei)開(kai)頭的數(shu)(shu)(shu)據(ju)為(wei)(wei)(wei)勵磁特性結(jie)果(guo)(guo)數(shu)(shu)(shu)據(ju)，以(yi)“B”為(wei)(wei)(wei)開(kai)頭的數(shu)(shu)(shu)據(ju)為(wei)(wei)(wei)變比極(ji)性結(jie)果(guo)(guo)數(shu)(shu)(shu)據(ju)，以(yi)“C”為(wei)(wei)(wei)開(kai)頭的數(shu)(shu)(shu)據(ju)為(wei)(wei)(wei)負(fu)荷結(jie)果(guo)(guo)數(shu)(shu)(shu)據(ju)，以(yi)“D”為(wei)(wei)(wei)開(kai)頭的數(shu)(shu)(shu)據(ju)為(wei)(wei)(wei)直阻結(jie)果(guo)(guo)數(shu)(shu)(shu)據(ju)。以(yi)“E”為(wei)(wei)(wei)開(kai)頭的數(shu)(shu)(shu)據(ju)為(wei)(wei)(wei)角差(cha)比差(cha)結(jie)果(guo)(guo)數(shu)(shu)(shu)據(ju)，以(yi)“T”為(wei)(wei)(wei)開(kai)頭的數(shu)(shu)(shu)據(ju)為(wei)(wei)(wei)暫態(tai)結(jie)果(guo)(guo)數(shu)(shu)(shu)據(ju)。

11.6 載(zai)入(ru)數據(ju)結束后，選(xuan)擇“確(que)定”出現(xian)圖40界(jie)面(mian)，在此界(jie)面(mian)右上方設置相應參數后，選(xuan)擇“生成誤差曲線”則完成所有(you)試驗結果的(de)載(zai)入(ru)。

11.7 載入全部完成后(hou)，可根據需要(yao)選擇“保存”或打印結果數據。

11.8  選擇“保存”選項，則以WORD的形(xing)式顯(xian)示(shi)結果(guo)如圖41。

11.9  如需繼(ji)續加載試驗結果數(shu)據，請先(xian)清除(chu)上次載入的(de)數(shu)據。

圖38

圖(tu)39

圖(tu)40

圖41

附(fu)  錄

附錄一、 “校準”測(ce)試(shi)方法（以CT為例）

圖(tu)42，校準(zhun)測試(shi)主界面(mian)               圖(tu)43，電壓校準(zhun)接線圖(tu)

圖44，電(dian)流(liu)校準接(jie)線圖

1）參數(shu)設(she)置：

進入(ru)CT“勵磁”測試界面(mian)后，選擇進入(ru)“校準”試驗界面(mian)（如(ru)圖42），設定好勵磁電流值(zhi)：0.1A ～ 5A;勵磁電壓(ya)值(zhi)：1V～1000V。

2）開始：

電(dian)壓(ya)校準試驗參照圖43進行(xing)接線；設置好被測電(dian)壓(ya)后，合上(shang)功率開(kai)關(guan)，選擇(ze) “開(kai)始(shi)”選項，按(an)下(xia)控制器，試驗即開(kai)始(shi)，試驗到達設定值后將保持輸出電(dian)壓(ya)/電(dian)流值用于(yu)檢(jian)測，檢(jian)測完畢后，按(an)下(xia)控制器，試驗返回(hui)圖42界面(mian)。

電(dian)流校準(zhun)試(shi)(shi)驗(yan)參照圖44進(jin)行(xing)接線，電(dian)壓(ya)(ya)設(she)定(ding)值(zhi)(zhi)略高于(yu)【電(dian)流設(she)定(ding)值(zhi)(zhi)（A）*負載（Ω）】，設(she)置好被測(ce)電(dian)流/電(dian)壓(ya)(ya)值(zhi)(zhi)后，合上功率(lv)開(kai)關，選擇 “開(kai)始(shi)”選項(xiang)，按(an)下(xia)控制器，試(shi)(shi)驗(yan)即(ji)開(kai)始(shi)，試(shi)(shi)驗(yan)到達設(she)定(ding)值(zhi)(zhi)后將保持輸出(chu)電(dian)流/電(dian)壓(ya)(ya)值(zhi)(zhi)用于(yu)檢(jian)測(ce)，檢(jian)測(ce)完畢后，按(an)下(xia)控制器，試(shi)(shi)驗(yan)返回(hui)圖42界面。

附錄二、售后服務承諾 ，本產品保修一年，終身維護。
附錄三、誤差曲線說明

根據互(hu)感器(qi)二次側的(de)勵磁電流(liu)和(he)電壓(ya)計(ji)算出的(de)電流(liu)倍(bei)數（M）與允許(xu)二次負荷（ZII）之間(jian)的(de)5%、10%誤差曲線的(de)數據中也(ye)可判斷互(hu)感器(qi)保護繞(rao)組是否合(he)格(ge)：

1）在接近理(li)(li)論(lun)電流(liu)倍數下所(suo)測(ce)量的實際負(fu)(fu)荷(he)大(da)于互感器銘牌上理(li)(li)論(lun)負(fu)(fu)荷(he)值(zhi)，說(shuo)(shuo)明該(gai)互感器合格如圖45數據說(shuo)(shuo)明；

2）在接近理論(lun)負荷下所測量(liang)的(de)實際電流倍數大于互(hu)感器銘(ming)牌上的(de)理論(lun)電流倍數,也(ye)說明(ming)該(gai)互(hu)感器合格如圖45數據說明(ming)；

保(bao)護(hu)用電(dian)流(liu)(liu)(liu)(liu)互(hu)感(gan)器(qi)二(er)次負(fu)(fu)荷應滿足5%誤差曲線(xian)的(de)(de)(de)(de)要求，只(zhi)要電(dian)流(liu)(liu)(liu)(liu)互(hu)感(gan)器(qi)二(er)次實(shi)際負(fu)(fu)荷小于5%誤差曲線(xian)允許(xu)的(de)(de)(de)(de)負(fu)(fu)荷，在(zai)額(e)定(ding)電(dian)流(liu)(liu)(liu)(liu)倍(bei)數下，合格(ge)的(de)(de)(de)(de)電(dian)流(liu)(liu)(liu)(liu)互(hu)感(gan)器(qi)的(de)(de)(de)(de)測(ce)量(liang)誤差即在(zai)5%以內。二(er)次負(fu)(fu)荷越(yue)大(da)，電(dian)流(liu)(liu)(liu)(liu)互(hu)感(gan)器(qi)鐵心就越(yue)容(rong)易飽和(he)，所(suo)(suo)允許(xu)的(de)(de)(de)(de)電(dian)流(liu)(liu)(liu)(liu)倍(bei)數就越(yue)小。因此，5%誤差曲線(xian)即n/ZL曲線(xian)為(wei)(wei)(wei)圖(tu)9所(suo)(suo)示(shi)(shi)曲線(xian)。在(zai)圖(tu)45中例所(suo)(suo)示(shi)(shi)（所(suo)(suo)測(ce)保(bao)護(hu)用CT為(wei)(wei)(wei)5P10 20VA）：其中5為(wei)(wei)(wei)準確級(ji)（誤差極限為(wei)(wei)(wei)5％），P為(wei)(wei)(wei)互(hu)感(gan)器(qi)形式(shi)（保(bao)護(hu)級(ji)），10為(wei)(wei)(wei)準確限值系(xi)數（10倍(bei)的(de)(de)(de)(de)額(e)定(ding)電(dian)流(liu)(liu)(liu)(liu)），20VA表示(shi)(shi)額(e)定(ding)二(er)次負(fu)(fu)荷（容(rong)量(liang)）。電(dian)流(liu)(liu)(liu)(liu)倍(bei)數為(wei)(wei)(wei)10.27倍(bei)（接近(jin)10倍(bei)）時(shi)，所(suo)(suo)允許(xu)的(de)(de)(de)(de)二(er)次負(fu)(fu)荷為(wei)(wei)(wei)27.19Ω,大(da)于該(gai)(gai)(gai)CT的(de)(de)(de)(de)額(e)定(ding)負(fu)(fu)荷20VA(20VA/1=20Ω),通過(guo)該(gai)(gai)(gai)數據可判(pan)斷(duan)(duan)(duan)該(gai)(gai)(gai)互(hu)感(gan)器(qi)合格(ge)。另外(wai)(wai)，在(zai)二(er)次負(fu)(fu)荷為(wei)(wei)(wei)19.58Ω(接近(jin)20Ω) 所(suo)(suo)允許(xu)的(de)(de)(de)(de)二(er)次負(fu)(fu)荷為(wei)(wei)(wei)27.19Ω,大(da)于該(gai)(gai)(gai)CT的(de)(de)(de)(de)額(e)定(ding)負(fu)(fu)荷20VA(20VA/1=20Ω),通過(guo)該(gai)(gai)(gai)數據可判(pan)斷(duan)(duan)(duan)該(gai)(gai)(gai)互(hu)感(gan)器(qi)合格(ge)。另外(wai)(wai)，在(zai)二(er)次負(fu)(fu)荷為(wei)(wei)(wei)19.58Ω(接近(jin)20Ω)時(shi)，所(suo)(suo)允許(xu)的(de)(de)(de)(de)電(dian)流(liu)(liu)(liu)(liu)倍(bei)數為(wei)(wei)(wei)12.85倍(bei)，大(da)于該(gai)(gai)(gai)CT的(de)(de)(de)(de)額(e)定(ding)電(dian)流(liu)(liu)(liu)(liu)倍(bei)數（10倍(bei)），通過(guo)該(gai)(gai)(gai)數據也(ye)可判(pan)斷(duan)(duan)(duan)該(gai)(gai)(gai)互(hu)感(gan)器(qi)合格(ge)。其實(shi)，只(zhi)要找出這兩(liang)個(ge)關鍵(jian)點中的(de)(de)(de)(de)任(ren)意(yi)一個(ge)，即可判(pan)斷(duan)(duan)(duan)所(suo)(suo)測(ce)互(hu)感(gan)器(qi)是否合格(ge)。

如(ru)果(guo)10％誤差(cha)不(bu)符合要求一(yi)般(ban)的做法(fa)有：

增大二次電纜(lan)界面積(ji)（減(jian)少二次阻抗）

串(chuan)接同型同變比電(dian)流互(hu)感器（減少(shao)互(hu)感器勵(li)磁(ci)電(dian)流）

改(gai)用伏安特性較高的繞組(zu)（勵磁(ci)阻抗增大）

提(ti)高電流互感器變(bian)比（增(zeng)大勵(li)磁(ci)阻(zu)抗(kang)）

圖45

誤差曲(qu)線計算公式(shi)：

M =（I*P）/N                   ZII =（U-（I*Z2））/(K*I)

I 電(dian)流                ;         U 電(dian)壓(ya)

N=1  (1A 額定電流)  ;           I 電流

N=5  (5A 額定電(dian)流)             Z2 CT二次側阻抗

P=20 （5％誤(wu)差(cha)曲線(xian) ）          K=19（5％誤(wu)差(cha)曲線(xian).1A 5A 額定(ding)電流）

P=10 （10％誤差曲線(xian) ）         K=9 （10％誤差曲線(xian).1A 5A 額定電流）

附(fu)錄(lu)四、時間設置說(shuo)明

開機前先按下(xia)旋(xuan)(xuan)轉控(kong)制(zhi)器(qi)(qi)不要松開，打開電源，當進(jin)度條進(jin)完(wan)后停3秒之(zhi)后，松開旋(xuan)(xuan)轉控(kong)制(zhi)器(qi)(qi)，此(ci)時(shi)(shi)可(ke)看(kan)到如圖(tu)46的(de)界(jie)面(mian)，此(ci)時(shi)(shi)旋(xuan)(xuan)轉“控(kong)制(zhi)器(qi)(qi)”把前兩(liang)個(ge)99設(she)置為01，按下(xia)“控(kong)制(zhi)器(qi)(qi)”。光標移(yi)動到后兩(liang)位(wei)的(de)99，再次(ci)旋(xuan)(xuan)轉“控(kong)制(zhi)器(qi)(qi)”，把后兩(liang)位(wei)也設(she)置為01，按下(xia)“控(kong)制(zhi)器(qi)(qi)”。此(ci)時(shi)(shi)可(ke)進(jin)入到界(jie)面(mian)47，在此(ci)界(jie)面(mian)中可(ke)設(she)置時(shi)(shi)間，設(she)置方(fang)式是(shi)先按下(xia)控(kong)制(zhi)器(qi)(qi)，再旋(xuan)(xuan)轉設(she)置數字，設(she)置完(wan)畢后再次(ci)按下(xia)控(kong)制(zhi)器(qi)(qi)表示確認，光標會進(jin)入到下(xia)個(ge)選項(xiang)。

圖46                                圖47

附錄五、智能(neng)提示說明

在做(zuo)各種(zhong)測(ce)試時(shi)，新(xin)上(shang)手的用(yong)(yong)戶(hu)可能會對接線及操(cao)(cao)作不(bu)熟(shu)練，導(dao)致實驗數據出現(xian)錯誤的結果。在這種(zhong)情況下(xia)，會讓您無(wu)所(suo)適(shi)從，基于此(ci)我們(men)加(jia)上(shang)了一(yi)些簡單的智能提示，使(shi)新(xin)用(yong)(yong)戶(hu)更易上(shang)手，使(shi)老用(yong)(yong)戶(hu)減少誤操(cao)(cao)作。

如圖48到圖51，舉例說明了伏(fu)安特性與變比極(ji)性測(ce)試(shi)時易出(chu)現的一(yi)些問(wen)題(ti)。

伏安(an)特性測試時空開（功率(lv)開關(guan)）忘(wang)記打(da)開的提示。

伏(fu)安特性測試(shi)時(shi)接(jie)(jie)線錯誤的提示(shi)。（CT的二次繞組應接(jie)(jie)在(zai)K1/K2,有(you)時(shi)用戶會誤接(jie)(jie)在(zai)S1/S2）。

變比(bi)極性測試時(shi)空開忘記(ji)打開或者(zhe)一次電流線沒(mei)有接(jie)上。

變比極性測試時CT二次(ci)的接線沒(mei)有接對。

圖48        ;                        圖49

圖50                                  圖51