CT伏安特性綜合試驗儀

　

*章 LYFA3300CT伏安特性綜合試驗儀使用范圍與技術指標

1.1 功(gong)能與使用場合(he)

用于電流互感器的以(yi)下試(shi)驗(yan)：

1）勵磁特性試驗(yan)

2）匝數比檢測

3）比差與(yu)角(jiao)差校驗

4）極性校驗

5）二次繞(rao)組電阻測(ce)量

6）二次負(fu)荷測量

7）5%和10%誤差曲線(xian)測量

8）CT暫(zan)態(tai)特性測試(shi)與分(fen)析

9）CT銘牌自動推斷(duan)

10）拐(guai)點電(dian)壓/電(dian)流(liu)、準確限值系(xi)數(shu)、儀表(biao)保安系(xi)數(shu)、二次時(shi)間常數(shu)、剩磁系(xi)數(shu)、準確級、飽和與(yu)不飽及電(dian)感，拐(guai)點電(dian)動(dong)勢，極(ji)限電(dian)動(dong)勢和面(mian)積系(xi)數(shu)等CT 參數(shu)的(de)測量

11）電流互感器鐵(tie)芯磁滯(zhi)回線測量

還可用(yong)于電壓(ya)互感器(qi)的以(yi)下試(shi)驗：

1）PT匝數比檢測

2）PT極性校(xiao)驗(yan)

3）PT二(er)次繞(rao)組電阻測量(liang)

4）PT二次負荷(he)測量(liang)

5) PT勵磁特性(xing)測量

裝(zhuang)置的(de)應用場合主要有：

1） CT銘牌的參數校驗

2） CT接入當前負荷時參數(shu)校(xiao)驗

3） 分析CT的(de)暫態特性對(dui)繼電保護裝置的(de)影響。

4） PT的銘牌參數校(xiao)驗

5） PT二次負荷校驗(yan)

1.2 CTPT分析儀技術指標

1 測(ce)試標(biao)準依據：

IEC60044-1, IEC60044-2, IEC60044-5, IEC60044-6, GB1207, GB1208,GB16847, GBT4703, C57.13

2 輸入電(dian)源(yuan)電(dian)壓： AC220V±10%，50Hz/60Hz±10%

3 輸(shu)出電壓： 0.1~180V(AC)

4 輸出(chu)電流(liu)： 0.001~5A(RMS)

5 輸出功(gong)率：500VA

6 高等效拐點電壓：45KV

7 ;電流(liu)測(ce)量： 范(fan)圍：0~10A(自動量程(cheng)0.1/0.4/2/10A)

誤差(cha)<±0.1%+0.01%FS

8 電壓(ya)測(ce)量： 范圍：0~200 V (自(zi)動(dong)量程1/10/70/200V)

誤差< ±0.1%+0.01%FS

9 匝(za)數(shu)比測量： 范圍：1~35000，

1~2000 誤差<0.05%

2000~5000 誤差<0.1%

5000~35000 誤(wu)差(cha)<0.2%

10 相位測量： 精度：±2min，分辨率：0.01min

11 二次繞組電(dian)阻測量范圍： 范圍：0~8KΩ(自動量程2/20/80Ω/800Ω/8k&Omega;)

誤差< 0.2%RDG+0.02%FS， 大分辨率(lv)：0.1mΩ

12 溫度(du)測(ce)量(liang)：-50~100度(du)， 誤差(cha)&lt;3度(du)

13 CT二次負(fu)荷測(ce)量： 0～160ohm(2/20/80ohm/160ohm)

*.2%RDG+0.02%FS大分(fen)辨率0.001ohm

14 PT二(er)次(ci)負荷測量： 0～80kohm(800ohm/8kohm/80kohm)

*.2%RDG+0.02%FS大分(fen)辨率0.1ohm

15 PT匝數比測(ce)量： 范圍：1~30000，

1~5000 誤差<0.2%

5000~30000 誤差<0.5%

16 能(neng)夠按照所(suo)選擇的標準，對測(ce)試結果進行自(zi)動評估，判(pan)斷互感器是(shi)否合(he)格

17 能夠同時檢測額定負(fu)荷和操作負(fu)荷下電流互感(gan)的比差(cha)與角差(cha)

18 具有自動生成WORD試(shi)驗報告(gao)功能

19 具備批量(liang)制作(zuo)WORD試驗報(bao)告(gao)功(gong)能，一次可(ke)以(yi)將選擇的(de)所有試驗文件制作(zuo)成格式規范的(de)WORD報(bao)告(gao)

20 能夠將勵(li)磁曲(qu)線與存儲(chu)的歷史(shi)曲(qu)線進行自動(dong)對比

21 數據(ju)存儲組(zu)數：大于1000組(zu)

22 工作(zuo)條件： 溫度：-10℃～50℃， 濕度：≤90%

23 尺(chi)寸：485mm×356mm×183mm

24 重量：15Kg

第二章 LYFA3300CT伏安特性綜合試驗儀硬件裝置

2.1 概(gai)述

外形和各部分的(de)描述如圖2.1所示

2.2電(dian)源連接

電(dian)源(yuan)輸入(ru)(ru)插座在(zai)儀器面板的右側，如(ru)圖2.2所示。電(dian)源(yuan)輸入(ru)(ru)范圍是AC220±10% ，50/60Hz±10%，電(dian)源(yuan)插座內部安裝有5A保險。

2.3輸入與輸出

測試接(jie)口有3組(zu)：功(gong)率輸出，CT二(er)次(ci)側(ce)(ce)/PT一次(ci)側(ce)(ce)輸入，CT一次(ci)側(ce)(ce)/PT二(er)次(ci)側(ce)(ce)輸入。

功(gong)率輸出(chu)端子：功(gong)率輸出(chu)接口(kou)，輸出(chu)電壓范圍是AC 0~180V，輸出(chu)電流AC0~5A

CT二次側(ce)/PT一次側(ce)輸(shu)入(ru)端子：

CT二次(ci)繞(rao)組/PT一次(ci)繞(rao)組電壓測量輸(shu)入(ru)接口，輸(shu)入(ru)信(xin)號的電壓范圍是AC0~180V

CT一次(ci)側(ce)(ce)/PT二次(ci)側(ce)(ce)輸入端子：CT一次(ci)側(ce)(ce)/PT二次(ci)側(ce)(ce)繞組(zu)電壓測量輸入接口，輸入信號的電壓范圍是AC0~5V

2.4硬件部(bu)分原(yuan)理框圖

結構原理如圖(tu)2.3所示，其(qi)中的恒壓(ya)恒流(liu)變頻電源(yuan)(yuan)模塊與(yu)AC220V電源(yuan)(yuan)輸入是*隔離的。通過(guo)DSP數據(ju)采集(ji)系統(tong)完成(cheng)對恒壓(ya)恒流(liu)模塊的控制，可以使電源(yuan)(yuan)輸出AC0~180V正(zheng)弦電壓(ya)信號或者AC0~1A的正(zheng)弦電流(liu)信號。

DSP數(shu)據(ju)采(cai)集系(xi)(xi)統(tong)(tong)(tong)的(de)主(zhu)要(yao)功能是完成對(dui)變頻電源控(kong)制和(he)試驗過程的(de)數(shu)據(ju)采(cai)集。所(suo)有的(de)數(shu)據(ju)分析，存儲(chu)(chu)(chu)和(he)界面顯示都由工控(kong)機(ji)系(xi)(xi)統(tong)(tong)(tong)完成，工控(kong)機(ji)內置了嵌入式XPE系(xi)(xi)統(tong)(tong)(tong)，并對(dui)系(xi)(xi)統(tong)(tong)(tong)的(de)C盤進行的(de)自恢復保(bao)護，這樣可以有效(xiao)的(de)避免軟件系(xi)(xi)統(tong)(tong)(tong)故障和(he)病毒攻(gong)擊。儀器內部存儲(chu)(chu)(chu)空間>6G，大存儲(chu)(chu)(chu)數(shu)據(ju)>1000組。

2.5鍵盤(pan)

面板帶有一個16鍵(jian)的小鍵(jian)盤(pan)用(yong)于數據(ju)輸入，鍵(jian)盤(pan)的外形如圖2.4所示，其中各個按鍵(jian)的定義如下(xia)：

1）0~9 數字輸入鍵(jian)

2）∧向(xiang)上選擇方(fang)向(xiang)鍵

3) ∨向下(xia)選(xuan)擇方向鍵

4）＜刪(shan)除數據鍵

5）. 小(xiao)數點(dian)輸入鍵

6）ESC 取消選擇鍵

7）確定選擇(ze)或輸入鍵(jian)

第三章 LYFA3300試驗連線

3.1 CT二次(ci)負(fu)荷

在進行CT二(er)次負荷測(ce)量時(shi)請(qing)按照圖3.1連接分析儀和被測(ce)CT

具體接線步(bu)驟和(he)說明如下：

1）將接地(di)柱連接到保護地(di)PE

2）將按(an)照圖3.1所(suo)示(shi)，斷開(kai)CT二次側和二次回(hui)路的(de)連接

3）功(gong)率輸出(chu)和(he)CT二次(ci)側(ce)/PT一次(ci)側(ce)的黑(hei)色端(duan)子連接(jie)至(zhi)二次(ci)負荷一側(ce)，參見圖(tu)3.1

4）功率(lv)輸出和CT二(er)次側/PT一(yi)次側的紅(hong)色端(duan)子(zi)連(lian)接至(zhi)二(er)次負荷(he)的另一(yi)側

5）為了消(xiao)除接觸電阻的影響，在連接端子(zi)時，CT二(er)次側(ce)的連接端子(zi)應保持在功率輸(shu)出端子(zi)的內(nei)側(ce)，如圖3.2。

注意：在(zai)進行CT二(er)次(ci)負(fu)(fu)荷測(ce)量(liang)時，必須要(yao)斷開(kai)被(bei)測(ce)CT二(er)次(ci)側與負(fu)(fu)載的(de)連接，否則測(ce)量(liang)的(de)結果將是(shi)CT二(er)次(ci)側與二(er)次(ci)負(fu)(fu)荷的(de)并聯(lian)阻抗，這將導致儀器(qi)獲得錯誤(wu)的(de)試驗結果。并且在(zai)進行二(er)次(ci)負(fu)(fu)荷測(ce)量(liang)時儀器(qi)不(bu)進行退(tui)磁處(chu)理，因此(ci)如果CT二(er)次(ci)側未斷開(kai)將會導致CT進入(ru)飽和狀(zhuang)態。

3.2 CT分析，變比，極性(xing)試驗接線圖

在進(jin)行(xing)CT分析(xi)，變比或(huo)極性試驗(yan)時請按照圖3.3連接(jie)分析(xi)儀和被測(ce)CT，這三個試驗(yan)項目(mu)的接(jie)線(xian)方式是*的

具體(ti)接(jie)線步(bu)驟和說明如下：

1）斷(duan)開(kai)電力線與CT一次側的連接，未接地的電力線較長，會給CT一次側的測量引入較大(da)干(gan)擾(rao)，參見圖(tu)3.4。

3）將(jiang)CT一次(ci)側(ce)一端(duan)連(lian)接至分(fen)析儀CT一次(ci)側(ce)/PT二次(ci)側(ce)黑色(se)端(duan)子

4）將(jiang)CT一次(ci)側另一端(duan)連接至(zhi)分析儀CT一次(ci)側/PT二(er)次(ci)側紅色(se)端(duan)子

5）將分析儀的接(jie)地柱連接(jie)到(dao)保護地PE

6）將按照圖3.3所(suo)示，斷開被測CT二次(ci)側(ce)和二次(ci)負荷(he)的連接

7）功率輸(shu)出(chu)和CT二次(ci)側(ce)/PT一(yi)次(ci)側(ce)的黑色端子連接至CT二次(ci)側(ce)的一(yi)端，參見圖3.3

8）功率輸(shu)出和CT二(er)次側(ce)/PT一次側(ce)的紅色端(duan)子連(lian)接至CT二(er)次側(ce)另(ling)一端(duan)

9）為了(le)消除接(jie)觸電阻對線圈電阻測(ce)量的(de)影響，在(zai)連接(jie)分析儀(yi)的(de)端(duan)子(zi)時，CT二次側/PT一次側的(de)連接(jie)端(duan)子(zi)應保持(chi)在(zai)功率輸出端(duan)子(zi)的(de)內側，如圖3.4。

注(zhu)意：在對變比值相(xiang)同的多(duo)繞組(zu)電流互感器進行CT分(fen)析或CT比差角差測(ce)試(shi)(shi)時，沒有測(ce)試(shi)(shi)的二次繞組(zu)應全部短接，否則測(ce)試(shi)(shi)誤差將會(hui)偏大

例如同時(shi)含有測(ce)量0.5級，保(bao)護10P10，暫態(tai)TPY三個(ge)繞組的(de)2000/1的(de)CT，進行(xing)0.5級繞組的(de)比差(cha)角(jiao)差(cha)測(ce)量時(shi)應按(an)照圖3.4.1進行(xing)接線

3.3 CT線圈電阻測量接線圖

在測量CT線圈(quan)的直流電阻(zu)時(shi)，請按(an)照圖3.5連接儀器(qi)和被(bei)測CT。

1）將CTPT分析儀的接(jie)地柱連接(jie)到保護地PE

2）按照圖(tu)3.5所示，斷開被測CT二次側和二次負(fu)荷的連接

3）功率輸出和CT二(er)次(ci)側/PT一次(ci)側的(de)(de)黑色(se)端子連接至CT二(er)次(ci)側的(de)(de)一端，參見圖3.5

4）功率輸出和(he)CT二次側/PT一(yi)次側的紅色(se)端子連(lian)接至CT二次側另一(yi)端

5）為了消(xiao)除接(jie)(jie)觸電阻對線圈電阻測量(liang)的(de)(de)影響，在連接(jie)(jie)分析儀的(de)(de)端子時，CT二次側(ce)/PT一次側(ce)的(de)(de)連接(jie)(jie)端子應保持(chi)在功率輸出端子的(de)(de)內側(ce)，如(ru)圖3.4。

3.4 PT二(er)次負荷

在進行PT二次(ci)負荷測量時請按(an)照圖3.6連接(jie)CTPT分析儀和被測PT

具(ju)體接線(xian)步(bu)驟和說明如下：

1）接(jie)地柱連接(jie)到保護地PE

2）將按照圖3.6所示，斷開(kai)PT二次側和二次回(hui)路的連(lian)接(jie)

3）功率輸出和CT二次(ci)側/PT一次(ci)側的黑色端子連接至二次(ci)負荷的一端，參見圖(tu)3.6

4）將(jiang)CTPT分析功(gong)率輸出(chu)和CT二次側/PT一次側的紅色端(duan)(duan)子連接至二次負荷的另一端(duan)(duan)

5）為了消除(chu)接觸電阻的(de)影響，在連接端(duan)子(zi)(zi)時，CT二次側(ce)/PT一次側(ce)的(de)連接端(duan)子(zi)(zi)應保持在功率輸出端(duan)子(zi)(zi)的(de)內側(ce)，如圖3.2。

3.5 PT線(xian)圈電阻測量接(jie)線(xian)圖

在測(ce)量PT線圈的直(zhi)流電阻(zu)時，請按照(zhao)圖(tu)3.7連接儀器和被測(ce)PT。

1）接地柱連接到保(bao)護地PE

2）按照圖3.7所示，斷(duan)開被測PT二次(ci)(ci)側和二次(ci)(ci)負荷的(de)連接，或(huo)是斷(duan)開PT一次(ci)(ci)側與PT一次(ci)(ci)線路的(de)連接

3）功率輸出和CT二(er)次側(ce)/PT一(yi)次側(ce)的黑(hei)色端(duan)(duan)子連接至(zhi)PT二(er)次側(ce)(或PT一(yi)次側(ce))的一(yi)端(duan)(duan)，參見圖3.7

4）將(jiang)CTPT分(fen)析(xi)功率輸出(chu)和CT二次(ci)(ci)側(ce)(ce)/PT一次(ci)(ci)側(ce)(ce)的紅色端(duan)子連接至PT二次(ci)(ci)側(ce)(ce)（或PT一次(ci)(ci)側(ce)(ce)）另一端(duan)

5）為了消(xiao)除接(jie)觸(chu)電阻(zu)對(dui)線圈(quan)電阻(zu)測(ce)量的(de)影(ying)響，在連接(jie)端子時，CT二次側(ce)(ce)/PT一次側(ce)(ce)的(de)連接(jie)端子應(ying)保持在功(gong)率輸出端子的(de)內(nei)側(ce)(ce)，如圖3.4。

3.6 PT匝數(shu)比，極(ji)性試驗接線圖

在進行PT變比或極(ji)性(xing)試驗(yan)時(shi)請(qing)按(an)照圖3.9連接CTPT分析儀和被測(ce)PT，這(zhe)兩個試驗(yan)項目的接線方式(shi)是*的

具體(ti)接線步驟和說明如下：

1）將(jiang)PT二次側的(de)一(yi)(yi)端連(lian)接至分析儀CT一(yi)(yi)次側/PT二次側黑(hei)色端子

2）將PT二次側(ce)另(ling)一(yi)端連接至分析(xi)儀CT一(yi)次側(ce)/PT二次側(ce)紅(hong)色端子

3）接地(di)柱連(lian)接到保護地(di)PE

4）將按照(zhao)圖(tu)3.9所(suo)示(shi)，斷開被測PT二(er)次側和二(er)次負荷的連接

5）功率(lv)輸出和CT二次側(ce)/PT一(yi)次側(ce)的(de)黑色端子連接至PT一(yi)次側(ce)的(de)一(yi)端，參見圖3.9

6）將(jiang)CTPT分(fen)析功率輸出和CT二次側/PT一次側的(de)紅(hong)色(se)端子(zi)連接至PT一次側另一端

7）為了消(xiao)除接(jie)觸(chu)電阻對線圈電阻測量的(de)影響，在(zai)連(lian)接(jie)分析儀(yi)的(de)端(duan)子時，CT二次側/PT一(yi)次側的(de)連(lian)接(jie)端(duan)子應保持(chi)在(zai)功率輸出端(duan)子的(de)內側，如圖3.4。

3.7 PT勵磁試驗接(jie)線圖

在進行PT勵(li)磁試(shi)驗時請按照圖3.10連接(jie)分析(xi)儀和被測PT。

執(zhi)行PT勵(li)磁(ci)試(shi)驗時，需(xu)要(yao)外接PT勵(li)磁(ci)試(shi)驗模塊，以(yi)防止發生高頻振蕩，造(zao)成測試(shi)結果的電流過(guo)大

具體接(jie)線步驟和說明(ming)如下：

1）將(jiang)PT二次(ci)側(ce)(ce)的一端連接至CTPT分析儀CT二次(ci)側(ce)(ce)/PT一次(ci)側(ce)(ce)黑色端子

2）將PT二次(ci)側另一端(duan)連接至CTPT分(fen)析儀CT二次(ci)側/PT一次(ci)側紅色端(duan)子(zi)

3）將PT勵磁模塊的黃色/黑色線連接至分(fen)析儀的功率輸出(chu)

4）將PT二次側的一(yi)端連接至PT勵磁模塊的紅(hong)色(se)插座(zuo)

5）將(jiang)PT二次側的另外一(yi)端(duan)連(lian)接至PT勵磁模塊的黑色插(cha)座(zuo)

6）接(jie)地柱連接(jie)到(dao)保護地PE

7）將按照圖3.10所示(shi)，斷開被測PT二(er)次(ci)側和(he)二(er)次(ci)負(fu)荷(he)的連接

8）為了消除接觸電阻對線圈電阻測量的影響，在(zai)連接分析儀的端子時(shi)，CT二次(ci)側/PT一次(ci)側的連接端子應保持在(zai)功率輸(shu)出端子的內側，如圖3.4。

注意：PT勵磁試驗(yan)完成后，PT一次(ci)(ci)側可能有高(gao)壓殘(can)留，一定要對(dui)PT一次(ci)(ci)側進行放電(dian)，否則將一次(ci)(ci)側再連接到儀(yi)器時，可能造成儀(yi)器損(sun)耗

第四章 LYFA3300用戶界面

4.1 儀器(qi)運(yun)行(xing)界面

軟件(jian)系(xi)統定義了6種運行狀態(tai)，這6種運行狀態(tai)分(fen)(fen)別(bie)為(wei)“等(deng)(deng)(deng)待(dai)新建試(shi)(shi)驗(yan)”，“等(deng)(deng)(deng)待(dai)查看(kan)(kan)歷(li)史結果”，“等(deng)(deng)(deng)待(dai)試(shi)(shi)驗(yan)”，“運行”，“查看(kan)(kan)結果”和(he)“查看(kan)(kan)歷(li)史結果”。不同的狀態(tai)下(xia)軟件(jian)顯(xian)示(shi)界面是(shi)不一樣的，但是(shi)整個(ge)軟件(jian)界面都是(shi)被劃分(fen)(fen)為(wei)5個(ge)區域，其劃分(fen)(fen)方式如圖(tu)4.1所(suo)示(shi)，5個(ge)區域分(fen)(fen)別(bie)為(wei)工(gong)具欄(lan)，儀(yi)器(qi)主工(gong)作(zuo)區（在等(deng)(deng)(deng)待(dai)試(shi)(shi)驗(yan)界面顯(xian)示(shi)為(wei)試(shi)(shi)驗(yan)項目選擇和(he)操作(zuo)命令選擇，如圖(tu)4.1），儀(yi)器(qi)狀態(tai)信息(xi)欄(lan)，當前試(shi)(shi)驗(yan)參(can)數欄(lan)和(he)試(shi)(shi)驗(yan)控制欄(lan)。儀(yi)器(qi)處于不同的運行狀態(tai)時(shi)，僅僅是(shi)在主工(gong)作(zuo)區對顯(xian)示(shi)界面進行切換。

4.2 儀器軟(ruan)件(jian)工具欄

工具欄包(bao)含了對(dui)儀(yi)器(qi)操作的各個命令按(an)鈕，其中包(bao)括“新建試驗”，“保(bao)存”，“讀(du)取”，“儀(yi)器(qi)設置(zhi)”，“語言選擇”，“互感器(qi)設置(zhi)”，“數據導出(chu)”和“使用幫助”等，各個儀(yi)器(qi)控(kong)制命令的詳(xiang)細解釋如下。

4.2.1新建試(shi)驗

新建試(shi)驗(yan)是(shi)指結束(shu)當(dang)前的試(shi)驗(yan)窗口(kou)，軟件返回至“等待新建試(shi)驗(yan)狀態&rdquo;，在該(gai)(gai)(gai)狀態下圖4.1所示界面被加載，可(ke)以在該(gai)(gai)(gai)窗體中選擇將要進(jin)行的試(shi)驗(yan)項目，該(gai)(gai)(gai)窗體中的試(shi)驗(yan)項目包括(kuo)“CT分析”，“CT比差角(jiao)差測量”，“CT二次負荷”，“CT極(ji)性檢(jian)查”，“CT線圈電阻(zu)(zu)測量”， “PT變比”，“PT二次負荷”，“PT極(ji)性檢(jian)查”和“PT線圈電阻(zu)(zu)”，也可(ke)以在該(gai)(gai)(gai)狀態下重新啟動軟件或是(shi)關(guan)閉系統。

4.2.2 保存

保存按鈕(niu)是在(zai)完成試驗(yan)以后，保存儀器(qi)試驗(yan)結果(guo)和數據。在(zai)查看歷史結果(guo)時，如(ru)果(guo)用(yong)戶修改當前(qian)的顯(xian)示模式（標準或互感(gan)器(qi)等級改變），可以通過此按鈕(niu)保存修改后的結果(guo)。

儀(yi)器在保存試(shi)驗結果時文(wen)件(jian)的(de)名稱是按照如下格(ge)式進行組織的(de)：

年-月-日 時：分：秒 互感器編號 試驗名稱.cta

例如 2011-04-08 11：12：30 CT分析.cta

其(qi)中時間部分是取自試(shi)驗(yan)啟動瞬間的系統(tong)時間，因此(ci)在查看歷(li)史結(jie)果狀態修改試(shi)驗(yan)顯示模式后保存(cun)試(shi)驗(yan)結(jie)果，此(ci)時儀器(qi)將自動覆蓋原來的文件，而不會重新為此(ci)文件創建一個副本。

4.2.3讀取

讀(du)取(qu)按(an)鈕的功能(neng)是重新導入已保存的歷史數據，當用(yong)戶點擊(ji)讀(du)取(qu)按(an)鈕以后圖4.2所示窗體(ti)將會被加載(zai)。

在試驗讀取(qu)界面，窗體的(de)(de)(de)左邊(bian)列出(chu)了當前(qian)儀器所保(bao)(bao)存(cun)的(de)(de)(de)所有試驗文(wen)(wen)(wen)件(jian)(jian)名稱(cheng)；右邊(bian)是對保(bao)(bao)存(cun)文(wen)(wen)(wen)件(jian)(jian)的(de)(de)(de)操作命令選(xuan)擇；右上角(jiao)是儀器當前(qian)存(cun)儲(chu)的(de)(de)(de)文(wen)(wen)(wen)件(jian)(jian)計數(shu)，其內容(rong)包(bao)括當前(qian)選(xuan)擇的(de)(de)(de)文(wen)(wen)(wen)件(jian)(jian)索引和(he)當前(qian)存(cun)儲(chu)的(de)(de)(de)文(wen)(wen)(wen)件(jian)(jian)總數(shu)。

文件讀取(qu)窗(chuang)體中的命(ming)令按鈕包括

1)&ldquo;上一(yi)頁” 對(dui)文件顯示(shi)列表(biao)中的內容進(jin)行向上翻頁

2)“下一頁(ye)” 對(dui)文件顯示(shi)列(lie)表中(zhong)的(de)內容(rong)進行向下翻頁(ye)

3)“刪除所有(you)文件(jian)”刪除當前存儲在儀器(qi)中(zhong)的所有(you)試驗文件(jian)

4)“刪(shan)除文(wen)(wen)件”刪(shan)除當(dang)前所選擇的文(wen)(wen)件

5)“取消”退出文件讀(du)取窗體

6)讀取當前所選擇(ze)的文件，儀器進入(ru)&ldquo;查看歷(li)史結果界(jie)面”，

4.2.4 儀器設置

儀器(qi)設置按(an)鈕(niu)用于設置儀器(qi)的運行參(can)數，點擊儀器(qi)設置按(an)鈕(niu)圖4.3所示的窗(chuang)體(ti)會被加載。

儀器(qi)設置界面中(zhong)(zhong)的(de)系統運行參數(shu)只(zhi)會反(fan)映在儀器(qi)生成的(de)試驗報告中(zhong)(zhong)，與試驗的(de)流程控制無關(guan)，其中(zhong)(zhong)的(de)各個參數(shu)詳細定義如表4.1

表4.1 系統運(yun)行參數

參數名稱	含義(yi)
儀器ID	儀器的出廠識別(bie)號(hao)，所有的儀器都具有*的ID
軟件ID	儀器的DSP軟件系(xi)統(tong)版本號
操作(zuo)人員	生成WORD試驗報告(gao)(gao)時，報告(gao)(gao)中顯(xian)示的操作人員名字
試驗單位	生成(cheng)WORD試(shi)驗(yan)報告(gao)時，報告(gao)中顯示的試(shi)驗(yan)單位(wei)
試驗地點	生成WORD試(shi)驗報告時，報告中顯示(shi)的(de)試(shi)驗地點
報告頁眉	生(sheng)成(cheng)WORD試驗報告時，報告頁眉部分的內容
報(bao)告頁腳(jiao)	生成WORD試驗報(bao)(bao)告(gao)時(shi)，報(bao)(bao)告(gao)頁(ye)腳部分的內容
生成(cheng) 報告時含磁(ci)滯回路曲線	在完(wan)成(cheng)CT分析(xi)試(shi)驗后(hou)，將磁滯(zhi)回線(xian)包含(han)在所(suo)生成(cheng)的WORD報告中
在誤差曲線中使用整(zheng)數(shu)一次電流(liu)倍數(shu)	在生(sheng)成誤差曲線(xian)數據時只顯示一次電流整數倍數的數值

其(qi)(qi)余參數均與試(shi)驗過程(cheng)的(de)控制有關(guan)，但(dan)是只涉(she)及CT測試(shi)時的(de)試(shi)驗流程(cheng)，與PT試(shi)驗沒有關(guan)系，其(qi)(qi)詳(xiang)細含義如表4.2所(suo)示

參數(shu)名稱	含義
自動評估設置	如果設為“關閉(bi)自動評估”，在CT分析試驗結束后，儀器給出各個參數數值，不會自動判定當前的(de)試驗結果是否符合所(suo)選(xuan)標準(zhun)的(de)要求。 如果設置(zhi)僅對操(cao)作(zuo)負荷(he)進行評(ping)估(gu)，在(zai)CT分析(xi)試(shi)驗結(jie)束后，儀(yi)器除給出(chu)試(shi)驗各參數(shu)的數(shu)值外，還會依據(ju)CT所(suo)連(lian)接負荷(he)為當前(qian)操(cao)作(zuo)負荷(he)時，自動判斷各項(xiang)指標(biao)是否(fou)符合所(suo)選(xuan)標(biao)準要求 如果設(she)置對(dui)(dui)額(e)定和操(cao)作負荷進行評(ping)估，在CT分析試(shi)驗結束后(hou)，儀器除給出試(shi)驗各(ge)參(can)數的數值外，還會分別(bie)對(dui)(dui)CT所(suo)連接(jie)負荷為操(cao)作負荷和額(e)定負荷時，自動(dong)判斷各(ge)項(xiang)指標是否符合所(suo)選標準要求
勵磁試驗控制	默認情況下，系統設置為自(zi)動(dong)獲(huo)取(qu)系統的(de)(de)(de)飽(bao)(bao)和電壓(ya)點(dian)，此參數用于對(dui)CT進行(xing)(xing)勵(li)磁(ci)試(shi)驗(yan)(yan)時的(de)(de)(de)流程(cheng)控制，儀器(qi)會根據獲(huo)取(qu)的(de)(de)(de)飽(bao)(bao)和電壓(ya)自(zi)動(dong)選(xuan)取(qu)合適(shi)的(de)(de)(de)試(shi)驗(yan)(yan)頻率。如果選(xuan)擇“自(zi)動(dong)獲(huo)取(qu)”則儀器(qi)在(zai)進行(xing)(xing)勵(li)磁(ci)試(shi)驗(yan)(yan)之前會自(zi)動(dong)測量所連(lian)接CT的(de)(de)(de)飽(bao)(bao)和電壓(ya)，否(fou)則儀器(qi)以設定的(de)(de)(de)飽(bao)(bao)和電壓(ya)為準進行(xing)(xing)勵(li)磁(ci)試(shi)驗(yan)(yan)。 注意：只有在“自(zi)動獲取”無法(fa)正確獲得(de)儀(yi)器(qi)的飽(bao)和電壓或者互感器(qi)的飽(bao)和電壓大于8KV時才將儀(yi)器(qi)設(she)為人工設(she)定模(mo)式，因為人工設(she)定模(mo)式可能(neng)會(hui)導致不能(neng)獲得(de)精細的勵磁曲線
顯示簡化的勵磁數據	選中(zhong)時勵磁曲線數(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)欄目將(jiang)顯(xian)示多30個(ge)數(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)點(dian)，分別為拐點(dian)前15個(ge)數(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)點(dian)和拐點(dian)后15個(ge)數(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)點(dian)，這些數(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)點(dian)都是(shi)從勵磁曲線上等步(bu)長截(jie)取獲得的，顯(xian)示簡化數(shu)(shu)據(ju)(ju)(ju)時可(ke)以加快(kuai)生成WORD文檔的速度(du) 未選中時(shi)儀器顯示實際(ji)獲取的勵(li)磁數(shu)(shu)據點數(shu)(shu)，通常會(hui)大于100個點
1A/5A類型互感器判(pan)斷閾值(zhi)	此(ci)參數適用于銘(ming)牌自動推(tui)測工作模式，當用戶選擇(ze)了自動推(tui)測銘(ming)牌，并(bing)且互感(gan)(gan)器二次額定電流未知(zhi)時，儀(yi)器以此(ci)閾值來判(pan)斷互感(gan)(gan)器類型，線圈電阻小于此(ci)閾值則認(ren)為(wei)是5A互感(gan)(gan)器，否則為(wei)1A互感(gan)(gan)器
1A互感器測(ce)量和保護類型判斷閾值	此參數適用(yong)于(yu)銘牌(pai)自動推測(ce)(ce)工(gong)作模(mo)式，當用(yong)戶選擇了自動推測(ce)(ce)銘牌(pai)，并且互感(gan)器等級(ji)未知時，儀器以(yi)此閾值來(lai)判斷(duan)1A的互感(gan)器保護和測(ce)(ce)量類型，飽和電壓小于(yu)此閾值則(ze)認為是測(ce)(ce)量1A互感(gan)器，否則(ze)為保護1A互感(gan)器
5A互感器測量和保護類型判(pan)斷閾值	此(ci)參(can)數適用于銘(ming)牌自動推(tui)測(ce)(ce)工作模式(shi)，當用戶選(xuan)擇了(le)自動推(tui)測(ce)(ce)銘(ming)牌，并且互感(gan)器等級未知時，儀器以此(ci)閾(yu)值來判斷5A的互感(gan)器保(bao)護(hu)(hu)和測(ce)(ce)量類型，飽(bao)和電壓小(xiao)于此(ci)閾(yu)值則認為是測(ce)(ce)量5A互感(gan)器，否則為保(bao)護(hu)(hu)5A互感(gan)器
勵磁數據(ju)查找條件(jian)	設置為通過(guo)電(dian)壓查(cha)找電(dian)流時(shi) 在勵磁曲線數據欄(lan)目中，輸入(ru)勵磁電(dian)壓數值儀器(qi)自(zi)動查(cha)找對應的勵磁電(dian)流(liu)數值 位置為通過電流查找(zhao)電壓時 在勵磁曲(qu)線數(shu)(shu)據(ju)欄目中，輸入勵磁電流數(shu)(shu)值儀器自(zi)動查找對應的勵磁電壓(ya)數(shu)(shu)值

4.2.5 語言選擇(ze)

CT分析儀支持漢語和英文兩種語言，此按鈕用于系統語言的選擇和切換。點擊此按鈕后圖4.4所示窗體被加載。選擇簡體中文后儀器的工作語言為中文，選擇English則儀器的工作語言變成英文

4.2.6 CT參數設置

互感器設置按(an)鈕用于(yu)設置被測CT銘牌(pai)參數和CT分析試(shi)驗，變(bian)比試(shi)驗的流程(cheng)控(kong)制參數。點擊此按(an)鈕后(hou)圖4.5所示(shi)窗體被加載(zai)。此窗體中(zhong)各參數的詳(xiang)細(xi)定義請(qing)參見第5.2節參數設置

4.2.7 數據導出

數據導出按(an)鈕(niu)用(yong)于導出已保存在儀器上的(de)試驗數據，WORD報(bao)告等文件。點擊此按(an)鈕(niu)后圖4.6所(suo)示的(de)窗體被加載。

左(zuo)邊的列表(biao)框展(zhan)示的是(shi)當前存(cun)儲在(zai)儀(yi)器上文件(jian)列表(biao)，在(zai)文件(jian)類(lei)型選(xuan)擇下拉框中(zhong)選(xuan)擇不同的文件(jian)類(lei)型，則在(zai)左(zuo)邊列表(biao)框中(zhong)將展(zhan)示相應的文件(jian)，文件(jian)類(lei)型包括“*.Cta“格式(shi)數(shu)(shu)據文件(jian)，WORD試驗(yan)報(bao)告文件(jian)和Jpg圖片文件(jian)。文件(jian)索引和文件(jian)總數(shu)(shu)計數(shu)(shu)器展(zhan)示儀(yi)器中(zhong)存(cun)儲的當前類(lei)型文件(jian)總數(shu)(shu)和現在(zai)所選(xuan)擇的文件(jian)索引，通(tong)過鼠標點擊可以(yi)同時選(xuan)擇多個文件(jian)，文件(jian)被選(xuan)擇時顯示為藍色(se)底色(se)。

數據導出(chu)窗體(ti)中的操作命(ming)令按鈕包括：

1)“上一頁” 對文件顯示列表中的內容進行向上翻頁

2)“下一頁” 對(dui)文件顯(xian)示列表中的(de)內容進(jin)行向下翻頁

3)“清(qing)空(kong)存儲器(qi)”，指刪除插入儀器(qi)的U盤中“試驗數(shu)據”目錄下(xia)的所有文件(jian)

4)“刪(shan)除所有(you)文(wen)件(jian)”刪(shan)除當(dang)前(qian)存儲在(zai)儀器(qi)中的所有(you)試驗文(wen)件(jian)

5)“刪除文件(jian)”刪除存儲在儀器中當前所選擇的文件(jian)

6)“導出(chu)所有文件(jian)(jian)(jian)”，將當(dang)(dang)前(qian)左(zuo)(zuo)邊(bian)(bian)(bian)窗(chuang)體中(zhong)的(de)(de)所有試(shi)驗(yan)文件(jian)(jian)(jian)導出(chu)至U盤中(zhong)。如果(guo)(guo)當(dang)(dang)前(qian)選(xuan)(xuan)擇(ze)的(de)(de)是(shi)“*.Cta”，則左(zuo)(zuo)邊(bian)(bian)(bian)列(lie)表(biao)(biao)框中(zhong)的(de)(de)所有“*.Cta”文件(jian)(jian)(jian)都會(hui)被導出(chu)至U盤的(de)(de)“試(shi)驗(yan)數據(ju)儀器(qi)試(shi)驗(yan)數據(ju)”文件(jian)(jian)(jian)目錄(lu)下，如果(guo)(guo)當(dang)(dang)前(qian)選(xuan)(xuan)擇(ze)的(de)(de)是(shi)“.Doc”文件(jian)(jian)(jian)，則左(zuo)(zuo)邊(bian)(bian)(bian)列(lie)表(biao)(biao)框中(zhong)的(de)(de)所有“*.Doc”文件(jian)(jian)(jian)都會(hui)被導出(chu)至U盤的(de)(de)“試(shi)驗(yan)數據(ju)WORD試(shi)驗(yan)報告”目錄(lu)下。如果(guo)(guo)當(dang)(dang)前(qian)選(xuan)(xuan)擇(ze)的(de)(de)是(shi)“.Jpg”文件(jian)(jian)(jian)，則左(zuo)(zuo)邊(bian)(bian)(bian)列(lie)表(biao)(biao)框中(zhong)的(de)(de)所有“*.Jpg”文件(jian)(jian)(jian)都會(hui)被導出(chu)至U盤的(de)(de)“試(shi)驗(yan)數據(ju)Jpg圖(tu)形文件(jian)(jian)(jian)”目錄(lu)下

7)“導(dao)出文件(jian)”，將當前所選(xuan)擇的(de)文件(jian)導(dao)出至(zhi)U盤對應的(de)目錄下。

8)“取(qu)消”退出文件導(dao)出窗體(ti)

4.2.8 使用幫助

此按鈕(niu)可以打(da)(da)開儀(yi)器的使(shi)用(yong)幫助文(wen)(wen)(wen)檔(dang)，使(shi)用(yong)幫助文(wen)(wen)(wen)檔(dang)以“*.Pdf”的文(wen)(wen)(wen)件格式存儲在儀(yi)器中，當用(yong)戶點(dian)擊此按鈕(niu)后使(shi)用(yong)幫助文(wen)(wen)(wen)檔(dang)會被(bei)打(da)(da)開。

4.3 主(zhu)工作區

位于(yu)軟件中部的所(suo)有區域(yu)是(shi)軟件的主工作區，儀(yi)(yi)器(qi)(qi)處(chu)于(yu)不同試驗(yan)狀(zhuang)態(tai)時(shi)主工作區的內容(rong)會被(bei)切換，例如(ru)當(dang)儀(yi)(yi)器(qi)(qi)處(chu)于(yu)“等待(dai)新建試驗(yan)狀(zhuang)態(tai)”時(shi)儀(yi)(yi)器(qi)(qi)主工作區顯示(shi)試驗(yan)選(xuan)(xuan)擇(ze)按鈕等如(ru)圖(tu)4.1. 當(dang)儀(yi)(yi)器(qi)(qi)處(chu)于(yu)“查看結果”或“查看歷史結果”時(shi)，并且選(xuan)(xuan)擇(ze)了當(dang)前(qian)展示(shi)模式為勵磁曲線時(shi)，儀(yi)(yi)器(qi)(qi)顯示(shi)如(ru)圖(tu)4.7所(suo)示(shi)

4.4 儀器運行狀態信息欄

儀器狀態信(xin)息欄展示的信(xin)息有(you)：

1）儀(yi)器(qi)的當前運行(xing)(xing)狀態，如“等(deng)待(dai)新建試(shi)驗(yan)”，“等(deng)待(dai)試(shi)驗(yan)&rdquo;，“查看結果”，“查看歷史結果”，“運行(xing)(xing)”，“等(deng)待(dai)查看歷史結果”等(deng)。

2）除了(le)儀(yi)器的(de)運(yun)行狀態(tai)外(wai)還有對儀(yi)器內(nei)部的(de)工控機(ji)(ji)與DSP之間(jian)通信(xin)的(de)標識，如果(guo)DSP與工控機(ji)(ji)之間(jian)通信(xin)成(cheng)功則儀(yi)器在狀態(tai)信(xin)息欄顯示(shi)聯(lian)機(ji)(ji)，否則儀(yi)器顯示(shi)為(wei)脫機(ji)(ji)狀態(tai)。

3）當前試驗項目(mu)(mu)，其內容為當前所選(xuan)擇的試驗項目(mu)(mu)名(ming)稱，如“CT分析”，“比差角差測量”等

4）系(xi)統(tong)日期和(he)時間，當(dang)儀器處于聯機非運行(xing)狀(zhuang)態時，此欄目會顯示當(dang)前的系(xi)統(tong)日期，系(xi)統(tong)時間和(he)當(dang)前面(mian)板處的環境(jing)溫(wen)度

5）環(huan)(huan)境溫(wen)度。儀器每(mei)隔2分(fen)鐘會更新(xin)一次環(huan)(huan)境溫(wen)度測量(liang)，所測得的環(huan)(huan)境溫(wen)度將會被用于(yu)計(ji)算75攝氏度的參考線圈(quan)電(dian)阻

4.5 試(shi)驗控制欄

試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)控制欄里具有(you)“試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)參(can)數(shu)(shu)(shu)設(she)(she)置(zhi)”和“開始試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)”按鈕(niu)(niu)，當儀(yi)(yi)器(qi)處于等(deng)待試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)狀態時點擊“試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)參(can)數(shu)(shu)(shu)設(she)(she)置(zhi)”按鈕(niu)(niu)，儀(yi)(yi)器(qi)將會顯示對應的(de)試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)參(can)數(shu)(shu)(shu)設(she)(she)置(zhi)窗體，在這些(xie)窗體中(zhong)用戶可以設(she)(she)置(zhi)當前試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)的(de)控制參(can)數(shu)(shu)(shu)。

“開始試(shi)驗(yan)”按鈕用于啟動(dong)和停(ting)止(zhi)當(dang)前(qian)的(de)試(shi)驗(yan)，當(dang)用戶從“等(deng)待試(shi)驗(yan)”或“查(cha)看結果(guo)”狀態(tai)點(dian)擊(ji)“開始試(shi)驗(yan)”按鈕后，儀器(qi)進(jin)入“運行”狀態(tai)，對(dui)應的(de)試(shi)驗(yan)會被啟動(dong)，該按鈕的(de)標識變成(cheng)“停(ting)止(zhi)試(shi)驗(yan)”，再次點(dian)擊(ji)該按鈕或試(shi)驗(yan)自動(dong)完成(cheng)后，儀器(qi)進(jin)入“查(cha)看結果(guo)”狀態(tai)，對(dui)應的(de)結果(guo)參數被自動(dong)計算并展示(shi)。

注意(yi)：當儀(yi)器處于“查(cha)(cha)看歷史結果”時，如果需要運(yun)行(xing)試驗必須首先點擊新建(jian)試驗，讓儀(yi)器進入到(dao)“等待試驗界面”，然后(hou)按(an)照“等待新建(jian)試驗&rdquo;->“等待試驗”->“運(yun)行(xing)”->“查(cha)(cha)看結果”的(de)流程完成試驗項目(mu)。

4.6 儀器的啟動與關閉(bi)

打(da)開儀器面板的電源后，儀器的軟(ruan)件系(xi)統(tong)被自動(dong)加載，儀器進(jin)入“等待新(xin)建試驗”狀態，開機過程(cheng)完成。

如果要(yao)關(guan)閉儀(yi)(yi)器，請(qing)首先通(tong)過軟件界面(mian)的“關(guan)閉系統”按鈕關(guan)閉儀(yi)(yi)器。等待儀(yi)(yi)器顯示屏上提示“It is safe to shutdown now&rdquo;時再切斷(duan)儀(yi)(yi)器的電源。

注意(yi)：緊急情況時，請直(zhi)接切(qie)斷儀器的供電(dian)電(dian)源

第五章 LYFA3300試驗操作

5.1 試驗運行(xing)的一般流程

如(ru)第四章中的(de)(de)描述儀(yi)器的(de)(de)軟件運(yun)(yun)(yun)行(xing)可(ke)以(yi)分為“等(deng)待(dai)新建試驗&rdquo;，“等(deng)待(dai)試驗”，“查看結果”，“運(yun)(yun)(yun)行(xing)”，“查看歷史結果”和“等(deng)待(dai)查看歷史結果”6種狀態。軟件運(yun)(yun)(yun)行(xing)的(de)(de)幾種常(chang)見的(de)(de)流(liu)程(cheng)如(ru)下：

1） 儀(yi)器開(kai)機(ji)以后(hou)進入(ru)“等待新建試(shi)驗”

“等待(dai)新建試驗”-&gt;“等待(dai)試驗”->“運行(xing)”->“查看結果”

此流程的(de)描述為儀(yi)器(qi)首(shou)先進入“等(deng)待新建試(shi)(shi)(shi)驗”狀(zhuang)(zhuang)態，用戶在此狀(zhuang)(zhuang)態選擇要(yao)進行的(de)試(shi)(shi)(shi)驗，如CT分(fen)析，然后設置CT分(fen)析試(shi)(shi)(shi)驗的(de)各(ge)個(ge)參(can)數，儀(yi)器(qi)轉而進入“等(deng)待試(shi)(shi)(shi)驗”狀(zhuang)(zhuang)態，用戶再點(dian)擊(ji)“開始試(shi)(shi)(shi)驗按(an)鈕”，試(shi)(shi)(shi)驗被啟動，等(deng)待試(shi)(shi)(shi)驗完成(cheng)后自(zi)動停(ting)止，儀(yi)器(qi)自(zi)動計(ji)算各(ge)個(ge)參(can)數，并進入“查(cha)看結果”狀(zhuang)(zhuang)態。

2）從“查(cha)看結果”狀態開始(shi)另一項試(shi)驗(yan)

“查(cha)看(kan)結果”->“等待新建試(shi)(shi)驗”->“等待試(shi)(shi)驗”->“運行”->“查(cha)看(kan)結果”

儀器在完成一項(xiang)試(shi)驗后需(xu)要進(jin)行另外一個試(shi)驗項(xiang)目，則此流按(an)照此流程進(jin)行。在“查(cha)看結果”狀態點擊“新(xin)建試(shi)驗”按(an)鈕，儀器進(jin)入“等(deng)待新(xin)建試(shi)驗狀態”，后面(mian)的過程同(tong)第1項(xiang)描述*

重復當前的試驗

“查看(kan)結(jie)果(guo)”->“運行”->“查看(kan)結(jie)果(guo)”

完成一項試(shi)(shi)驗后，以相同的參數重復(fu)這一試(shi)(shi)驗項目，則(ze)在“查看(kan)結果”狀(zhuang)態直接點(dian)擊“開(kai)始試(shi)(shi)驗”按鈕即可(ke)。

5.2 CT分(fen)析

5.2.1 CT分析試驗(yan)參數設置

CT分析試驗(yan)項目的參數(shu)設置界面如圖(tu)5.1所示。CT分析試驗(yan)和比差角差試驗(yan)的參數(shu)設置界面是*的，比差角差試驗(yan)所有需設置的參數(shu)項目在CT分析中也需要設置。

CT分(fen)析的參(can)數(shu)設置(zhi)(zhi)分(fen)為2部(bu)分(fen)：與(yu)(yu)互(hu)感器等(deng)級(ji)相(xiang)關的參(can)數(shu)和與(yu)(yu)互(hu)感器等(deng)級(ji)無關的參(can)數(shu)。其中表5.1描述了與(yu)(yu)互(hu)感器等(deng)級(ji)無關的各(ge)參(can)數(shu)。表5.2至表5.8所(suo)列出的試驗(yan)參(can)數(shu)，是針對(dui)于不同等(deng)級(ji)的互(hu)感器需要(yao)額外配置(zhi)(zhi)的參(can)數(shu)。

注意：當互感器的飽和(he)電壓(ya)大于8KV時(shi)，請(qing)在系統參數設置(zhi)(zhi)界面(mian)選擇(ze)人工(gong)設定勵磁(ci)試(shi)驗飽和(he)電壓(ya)，詳情(qing)見系統參數設置(zhi)(zhi)

5.2.2 CT分(fen)析試驗流程

進行CT分析試驗時，用戶需要按照(zhao)如下步驟進行：

1)在遵循(xun)安全規則的前提下(xia)，按照CT分析的接(jie)線(xian)圖，完成(cheng)儀器和互感(gan)器的連接(jie)

2)在軟件上選擇(ze)“CT分析(xi)”試驗項(xiang)目(mu)

3)完成互感器的各種(zhong)試驗參數設置

4)啟動試(shi)(shi)驗，等待(dai)試(shi)(shi)驗完(wan)成

5)查看結果

注意：對于飽和電壓很高的(de)互(hu)感器，儀器將會(hui)以很低(di)(di)的(de)頻率檢(jian)測互(hu)感器的(de)勵磁(ci)特性（可能低(di)(di)至0.25Hz），因此此時(shi)(shi)完成整(zheng)個試(shi)驗(yan)所需(xu)的(de)時(shi)(shi)間可能較長(chang)（長(chang)會(hui)達到半個小時(shi)(shi)），請耐心(xin)等待。嚴禁在(zai)試(shi)驗(yan)過程中斷開測試(shi)線的(de)連接

在執行CT分析試驗(yan)時，儀(yi)器會(hui)按照如下過程完(wan)成整個試驗(yan)：

線圈電阻檢測(ce)->一次消磁(ci)->二次消磁(ci)->精細調壓測(ce)量比(bi)差(cha)角差(cha)->粗調測(ce)量比(bi)差(cha)角差(cha)->測(ce)量互(hu)感器勵磁(ci)曲線

1)如果用戶選擇的工(gong)作模式是(shi)非自動獲取飽(bao)和電壓則(ze)一次消磁過(guo)程(cheng)將(jiang)被(bei)跳過(guo)

2)如果互感(gan)器(qi)的飽(bao)和電壓較低，則(ze)粗(cu)調(diao)測量比(bi)差角差的流程將(jiang)被跳過

在試驗(yan)過程(cheng)中(zhong)，左下角會提示當(dang)前(qian)儀器的(de)功(gong)率輸出和試驗(yan)運行狀(zhuang)態。

在參數設置界面，如果選擇(ze)“快速試(shi)(shi)驗(yan)”，儀(yi)器的記錄(lu)點數較(jiao)少(shao)且(qie)升(sheng)壓(ya)過(guo)程中(zhong)電壓(ya)步進值較(jiao)大，因此(ci)對于剩磁系數高，且(qie)飽和(he)電壓(ya)低（<250V）的互(hu)感(gan)器勵磁曲線會出現不平滑現象，此(ci)時因選擇(ze)標準(zhun)試(shi)(shi)驗(yan)。

選(xuan)擇(ze)標準試驗時(shi)(shi)儀(yi)器記錄的(de)數(shu)(shu)據點(dian)多，勵磁曲線(xian)以(yi)及計算參(can)數(shu)(shu)更，但(dan)是選(xuan)擇(ze)標準試驗時(shi)(shi)，試驗時(shi)(shi)長是快速試驗的(de)2倍以(yi)上。

圖5.1 CT分(fen)析試驗參數設置

參數名稱(cheng)	參數說明
是(shi)否推測信(xin)息	用(yong)于CT分析和變(bian)比試驗項目控制，如果選(xuan)擇(ze)為(wei)輸入已知銘(ming)牌(pai)，則(ze)儀器不會自(zi)動(dong)推測(ce)(ce)銘(ming)牌(pai)信息(xi)，如果選(xuan)擇(ze)為(wei)自(zi)動(dong)猜測(ce)(ce)銘(ming)牌(pai)則(ze)儀器會根(gen)據缺損的信息(xi)自(zi)動(dong)推測(ce)(ce)“額(e)定(ding)一次電(dian)流”，“額(e)定(ding)二次電(dian)流”和“互感器等級”
生(sheng)產廠家	此(ci)項目僅用(yong)于生成WORD試(shi)驗(yan)報告時對互(hu)感(gan)器進行標識，與試(shi)驗(yan)流程無關(guan)
互感(gan)器型號(hao)	此項目(mu)僅用于生成WORD試驗報告(gao)時對互感器進行(xing)標(biao)識，與試驗流程無關
互(hu)感器編號(hao)	此項目僅(jin)用于生成WORD試(shi)驗(yan)報告時對互感器進行標識(shi)和保存試(shi)驗(yan)時組(zu)成保存的文件名稱，與試(shi)驗(yan)流程無關(guan)
額定一次電流	設(she)置互(hu)感器的額(e)定一次電(dian)(dian)流(liu)值，如果選擇了自(zi)動推測銘牌(pai)且額(e)定一次電(dian)(dian)流(liu)設(she)為(wei)未知(zhi)，儀器將自(zi)動猜測額(e)定一次電(dian)(dian)流(liu)值
額定二次電(dian)流	設置互感器(qi)(qi)的額定(ding)(ding)二次(ci)電流值，如果選擇了自(zi)動推測銘牌(pai)且額定(ding)(ding)二次(ci)電流設為未知，儀器(qi)(qi)將自(zi)動猜測額定(ding)(ding)二次(ci)電流值
額定頻率	額定頻(pin)率(lv)選項用(yong)于比(bi)差(cha)(cha)角差(cha)(cha)測(ce)量(liang)試驗項目的控(kong)制(zhi)，如果選擇了50Hz，儀器將以(yi)(yi)50Hz的頻(pin)率(lv)測(ce)量(liang)互感(gan)器的比(bi)差(cha)(cha)角差(cha)(cha)，如果選擇60Hz則(ze)儀器以(yi)(yi)60Hz頻(pin)率(lv)測(ce)量(liang)互感(gan)器的比(bi)差(cha)(cha)和角差(cha)(cha)
誤差曲線計算(suan)點	對(dui)于IEC60044-1的保護(hu)類型互(hu)感器，儀(yi)器將計算此點處的誤差曲線
測試標準(zhun)選擇	選(xuan)擇不(bu)同(tong)的(de)測(ce)試標(biao)準，儀器(qi)將獲得(de)不(bu)同(tong)的(de)測(ce)試結果(guo)(guo)參數，對(dui)于(yu)相同(tong)的(de)結果(guo)(guo)參數其定義也可能(neng)不(bu)一樣，例如拐點(dian)電壓和拐點(dian)電流
互(hu)感器等級(ji)	在選擇了測(ce)試標(biao)準后，選擇互感(gan)器在此標(biao)準下的等(deng)級定義。
二次(ci)負荷	CT分析(xi)和比差角差試(shi)驗的計算(suan)參數與所(suo)接負(fu)荷(he)有關，所(suo)以不同的負(fu)荷(he)值會得到不同的測(ce)試(shi)參數，因(yin)此儀(yi)器的計算(suan)結(jie)果會給出互感器的額定負(fu)荷(he)條(tiao)件(jian)和操作負(fu)荷(he)條(tiao)件(jian)下的兩種(zhong)結(jie)果。 額定負荷：是指互感(gan)器銘(ming)牌上所標識的大允許負荷值 操作負(fu)荷：是互感器當前所接負(fu)荷的實(shi)測值(zhi) 負荷范圍：0~100.00，功率因數范圍：0~1.00
75攝氏度線圈電阻	銘(ming)牌上所標識的互(hu)感器在75攝氏度時線(xian)圈電阻值，電阻范圍0~100.000

圖5.2 IEC60044-1/GB1208計(ji)量類(lei)電流互感器的(de)參數定義

名稱(cheng)	參數說明
儀器保安系數FS	的(de)儀器(qi)保護(hu)系數，此(ci)參數影響自動評估的(de)結果，參數范圍1~300
擴展電流計算點Ext	需要額外計(ji)算比差(cha)(cha)角(jiao)差(cha)(cha)的電(dian)流(liu)點，此(ci)計(ji)算結(jie)果在比差(cha)(cha)角(jiao)差(cha)(cha)試驗結(jie)果中展示，參數范圍0%~400%

圖5.3 IEC60044-1/GB1208 的5P/10P/5PR/10PR類電流互感器(qi)的參數定(ding)義

名稱(cheng)	參數說明
準確限值系(xi)數ALF	的準確(que)限值系數，此參(can)(can)數影響自動評估的結果(guo)，參(can)(can)數范圍：1~300
大短路電(dian)流	互(hu)感器一次側所在回路可能發生的(de)大(da)短路電流

圖5.4 IEC60044-1/GB1208 的(de)PX類電流互感器的(de)參數(shu)定義

名稱	參數說明
準(zhun)確(que)限(xian)值系數ALF	的(de)準確限值(zhi)系(xi)數，此參(can)數影響自動評(ping)估的(de)結果，參(can)數范圍：1~300
面積系數(shu)	的面積增大系數(shu)，此參(can)(can)數(shu)影響自動評(ping)估的結果，參(can)(can)數(shu)范圍：1~300
準確(que)限制(zhi)電壓	銘牌(pai)標(biao)識的準(zhun)確限制電壓，此(ci)參(can)數(shu)影(ying)響(xiang)自動評估結果，參(can)數(shu)范圍0~10000.00
準確限制電流	準確限制電(dian)流，此參(can)數(shu)影響自動(dong)評估結果，參(can)數(shu)范圍0~9.9999A

圖5.5 IEC60044-6 TPS互感(gan)器參數設置

名稱	參數說明
對稱短路電流系數(shu)Kssc	的對稱短路電流系數Kssc，此參數影響結果參數計算和自(zi)動(dong)評估結果，參數范圍：1~300
暫(zan)態面積(ji)系數Ktd	的暫態面積系(xi)數(shu)Ktd，此參(can)(can)數(shu)影響結果參(can)(can)數(shu)計算和自動評(ping)估結果，參(can)(can)數(shu)范圍：1~300
一次(ci)時(shi)間(jian)常數(shu)Tp	的(de)一次(ci)時間常數，此參(can)(can)數影響結(jie)果參(can)(can)數計(ji)算和自動評(ping)估結(jie)果，參(can)(can)數范圍：0~10000ms
準確(que)限制電壓Val	銘牌標識的(de)準確限制電壓，此參(can)數(shu)影(ying)響結果參(can)數(shu)計算和(he)自動(dong)評(ping)估結果，參(can)數(shu)范圍：0~10000V
準確(que)限(xian)制電流Ial	銘牌標識的準確限制電流，此參(can)數(shu)影響結果參(can)數(shu)計算和自動評估結果，參(can)數(shu)范圍：0~9.9999A

圖5.6 IEC60044-6 TPX/TPY互感器參(can)數設置

名稱(cheng)	參數說(shuo)明
對稱短路電流系(xi)數Kssc	的對稱短路電流系數(shu)Kssc，此(ci)參(can)數(shu)影響結果參(can)數(shu)計算和自動評估結果，參(can)數(shu)范圍：1~300
暫態面積系數(shu) Ktd	的(de)暫態面積系數(shu)(shu)Ktd，此參(can)(can)(can)數(shu)(shu)影響結果參(can)(can)(can)數(shu)(shu)計算和自動評估結果，參(can)(can)(can)數(shu)(shu)范圍(wei)：1~300
一次時間(jian)常數 Tp	的一次(ci)時間常數，此(ci)參數影響結果(guo)參數計算和自動評(ping)估結果(guo)，參數范圍：0~10000ms
二次時(shi)間常數Ts	的二次時(shi)間常(chang)數，此參數影響自動(dong)評(ping)估(gu)的結果，參數范(fan)圍(wei)：0~100000ms
工作循環選擇	選(xuan)擇工作循環(huan)C-O或C-O-C-O，此參數影響結果(guo)(guo)參數計(ji)算和(he)自動評(ping)估結果(guo)(guo)
*次電流時限(xian) t1	的準確限值在t-al1 時間內不能達(da)到，范(fan)圍：0～10000ms，此參(can)數影(ying)響結果參(can)數計算和自動(dong)評估(gu)結果
第二(er)次電流時(shi)限 t2	的準確限(xian)值在t-al2 時間內不(bu)能達(da)到，范圍(wei)：0～10000ms，此(ci)參數(shu)影響結果(guo)參數(shu)計算和自動評估(gu)結果(guo)
*次工作循環的(de)準確限(xian)值的(de)允許(xu)時間 t-al1	范圍(wei)：0～10000ms，此參數影響結果(guo)參數計算和自動評估結果(guo)
第二次(ci)工作循環的(de)準(zhun)確限(xian)值(zhi)的(de)允許時間t-al2	范圍：0～5000ms，此參數影響結果(guo)參數計(ji)算和自(zi)動評估結果(guo)
*次(ci)打開和重合(he)閘的(de)延時 tfr	范圍：0～5000ms，此參(can)數影響(xiang)結果參(can)數計算和自動評估結果

圖5.7 IEC60044-6 TPZ互(hu)感器參數設置(zhi)

名稱	參數(shu)說(shuo)明
對稱短路(lu)電流系數Kssc	的(de)對稱短(duan)路電流(liu)系數Kssc，此參數影響(xiang)結(jie)果參數計算和自動(dong)評(ping)估結(jie)果，參數范(fan)圍：1~300
暫態面積系數(shu) Ktd	的暫態面積系數(shu)(shu)Ktd，此參數(shu)(shu)影響結(jie)(jie)果(guo)參數(shu)(shu)計算和自(zi)動評估結(jie)(jie)果(guo)，參數(shu)(shu)范圍：1~300
一次時間常數 Tp	的一次時間常數，此參(can)數影(ying)響結果(guo)(guo)參(can)數計算和自動(dong)評估結果(guo)(guo)，參(can)數范圍：0~10000ms
二次時間常數(shu)Ts	的二(er)次時間常數，此參數影(ying)響自(zi)動評(ping)估的結果，參數范圍：0~100000ms

圖(tu)5.8 C57.13 互感器參數設置

名稱	參數(shu)說明
額定(ding)熱(re)電流(liu)系數RF	銘牌標識(shi)的額(e)定二次熱(re)電流(liu)系數(shu)，如果此參數(shu)不為(wei)0，將計(ji)算額(e)定電流(liu)乘以(yi)此系數(shu)后所得測量點的比差和(he)角差，此參數(shu)影響結(jie)果計(ji)算和(he)自動評(ping)估。參數(shu)范圍：0~10.00
額定二(er)次(ci)端電壓(ya)VB	銘牌標識的額定二次端電壓，此參(can)(can)數(shu)影響參(can)(can)數(shu)計算和自動評估結果。參(can)(can)數(shu)范圍：0~10000.0V

5.2.3 CT分析試(shi)試(shi)驗結果

當(dang)CT分析試(shi)驗(yan)完成(cheng)后圖(tu)4.7所(suo)示的(de)勵磁曲線(xian)將會(hui)被首先(xian)顯示，通(tong)過(guo)圖(tu)中的(de)試(shi)驗(yan)結果項目切(qie)換按鈕，可以更(geng)換當(dang)前的(de)試(shi)驗(yan)結果內容，各個按鈕的(de)說明如下：

1 磁滯回線與數(shu)據(ju)

點擊(ji)(ji)(ji)磁(ci)(ci)滯(zhi)回(hui)(hui)(hui)線(xian)(xian)(xian)按鈕后(hou)，被測互感器(qi)(qi)鐵芯(xin)的(de)飽(bao)和(he)磁(ci)(ci)滯(zhi)回(hui)(hui)(hui)線(xian)(xian)(xian)將會顯示(shi)在(zai)屏幕(mu)上如圖5.2.1所(suo)示(shi)，該曲(qu)線(xian)(xian)(xian)為(wei)被測互感器(qi)(qi)在(zai)某(mou)測試(shi)頻率下所(suo)獲得的(de)飽(bao)和(he)磁(ci)(ci)滯(zhi)回(hui)(hui)(hui)路曲(qu)線(xian)(xian)(xian)，測試(shi)頻率顯示(shi)在(zai)界面(mian)的(de)左側，曲(qu)線(xian)(xian)(xian)的(de)橫(heng)軸為(wei)瞬時(shi)電流，縱軸為(wei)該電流下對應(ying)(ying)的(de)磁(ci)(ci)通量（單(dan)位是(shi)韋(wei)伯），磁(ci)(ci)滯(zhi)回(hui)(hui)(hui)線(xian)(xian)(xian)由上升(sheng)曲(qu)線(xian)(xian)(xian)和(he)下降曲(qu)線(xian)(xian)(xian)組成，點擊(ji)(ji)(ji)“啟動數(shu)據(ju)分析”可(ke)以獲取曲(qu)線(xian)(xian)(xian)上某(mou)一電流點對應(ying)(ying)的(de)上升(sheng)曲(qu)線(xian)(xian)(xian)數(shu)據(ju)和(he)下降曲(qu)線(xian)(xian)(xian)數(shu)據(ju)，點擊(ji)(ji)(ji)磁(ci)(ci)滯(zhi)回(hui)(hui)(hui)線(xian)(xian)(xian)數(shu)據(ju)可(ke)以查看所(suo)有測量點的(de)電流值(zhi)和(he)磁(ci)(ci)通量數(shu)值(zhi)

2 磁化(hua)曲線數據

點擊磁(ci)(ci)(ci)化(hua)曲(qu)(qu)(qu)線(xian)數(shu)(shu)(shu)據后(hou)，圖5.2所(suo)示的(de)(de)界(jie)(jie)面(mian)將(jiang)會被加載。磁(ci)(ci)(ci)化(hua)曲(qu)(qu)(qu)線(xian)所(suo)對(dui)(dui)應的(de)(de)磁(ci)(ci)(ci)化(hua)數(shu)(shu)(shu)據點將(jiang)在(zai)本(ben)窗(chuang)體中(zhong)展現，拖(tuo)動列表框的(de)(de)滑(hua)動條或按鍵(jian)盤(pan)的(de)(de)方(fang)向鍵(jian)，可以(yi)瀏(liu)覽所(suo)有的(de)(de)磁(ci)(ci)(ci)化(hua)曲(qu)(qu)(qu)線(xian)數(shu)(shu)(shu)據。在(zai)界(jie)(jie)面(mian)的(de)(de)下方(fang)是自動計(ji)(ji)算(suan)得到的(de)(de)磁(ci)(ci)(ci)化(hua)曲(qu)(qu)(qu)線(xian)的(de)(de)拐點電(dian)壓和(he)拐點電(dian)流。磁(ci)(ci)(ci)化(hua)曲(qu)(qu)(qu)線(xian)數(shu)(shu)(shu)顯示界(jie)(jie)面(mian)還支持勵(li)(li)磁(ci)(ci)(ci)電(dian)流查詢功(gong)能，只要(yao)輸入不超過大勵(li)(li)磁(ci)(ci)(ci)電(dian)壓的(de)(de)一(yi)個數(shu)(shu)(shu)值(zhi)在(zai)勵(li)(li)磁(ci)(ci)(ci)電(dian)壓文(wen)本(ben)框中(zhong)，分析儀自動計(ji)(ji)算(suan)并(bing)顯示其對(dui)(dui)應的(de)(de)勵(li)(li)磁(ci)(ci)(ci)電(dian)流值(zhi)。

3 磁化曲線

磁(ci)化曲線(xian)的界(jie)面如(ru)圖4.7所示(shi)，展示(shi)的內容包括，自動(dong)計算的拐點電壓(ya)，拐點電流，磁(ci)化曲線(xian)圖，通過(guo)“拐點顯(xian)示(shi)”復選(xuan)框，可以顯(xian)示(shi)和隱藏拐點在磁(ci)化曲線(xian)上的位置。

在磁(ci)(ci)(ci)化(hua)(hua)曲線(xian)展示界面選(xuan)擇“啟動(dong)數據分析(xi)”后，可(ke)以(yi)通過定(ding)位線(xian)獲取當前位置(zhi)對應(ying)的磁(ci)(ci)(ci)化(hua)(hua)電(dian)流和(he)(he)磁(ci)(ci)(ci)化(hua)(hua)電(dian)壓值(zhi)，通過“<<左(zuo)移(yi)”，“>>右移(yi)”和(he)(he)“鼠(shu)標點(dian)擊(ji)(ji)”可(ke)以(yi)改變定(ding)位線(xian)的位置(zhi)。“鼠(shu)標點(dian)擊(ji)(ji)”是指在“啟動(dong)數據分析(xi)”后通過鼠(shu)標或者(zhe)觸(chu)摸屏(ping)點(dian)擊(ji)(ji)磁(ci)(ci)(ci)化(hua)(hua)曲線(xian)展示區域，則定(ding)位線(xian)會移(yi)動(dong)至點(dian)擊(ji)(ji)處的X坐標。

點擊(ji)曲(qu)線(xian)(xian)對(dui)(dui)比，還(huan)可以(yi)實(shi)現當前曲(qu)線(xian)(xian)和存儲的(de)(de)歷史曲(qu)線(xian)(xian)對(dui)(dui)比，顯示界(jie)面如圖5.3所示。曲(qu)線(xian)(xian)比較功能可以(yi)用(yong)來對(dui)(dui)同一(yi)互感(gan)器不同時期的(de)(de)測量曲(qu)線(xian)(xian)進(jin)行對(dui)(dui)比，也可以(yi)用(yong)來對(dui)(dui)三相(xiang)互感(gan)器的(de)(de)勵磁特性(xing)曲(qu)線(xian)(xian)進(jin)行對(dui)(dui)比。曲(qu)線(xian)(xian)對(dui)(dui)比窗口各按(an)鈕的(de)(de)定(ding)義如下(xia)：

讀取參考曲線(xian)1

從存儲(chu)的歷史數據中讀(du)取1條參考(kao)勵(li)磁曲線與當前曲線進行對比

讀取(qu)參考(kao)曲線2

從(cong)存儲的歷史數據中讀取1條參考(kao)勵磁曲線與當(dang)前曲線進行(xing)對比

清除(chu)參考曲線

清(qing)除當前(qian)對比窗(chuang)口中(zhong)所有的(de)參(can)考(kao)曲線

復制圖像

將當前(qian)對比曲線圖形窗口復制成(cheng)為JPG文(wen)件(jian)并(bing)保(bao)(bao)存(cun)，保(bao)(bao)存(cun)的Jpg文(wen)件(jian)可以通過U盤導出

退出

關閉曲線對(dui)比窗(chuang)口

X坐標設置(zhi)

調整曲線對比(bi)圖(tu)形(xing)窗口(kou)的X坐標范(fan)圍(wei)，此參(can)數可以改變圖(tu)形(xing)的X軸(zhou)縮放比(bi)例

Y坐(zuo)標設置

調整曲(qu)線對比圖形(xing)窗口的Y坐標范(fan)圍(wei)，此參數可以改變圖形(xing)的Y軸縮放比例(li)

數據分析(xi)

點(dian)擊啟(qi)動數據分析后，示波窗口中會出現1條(tiao)定位(wei)(wei)線，通過(guo)定位(wei)(wei)線的移(yi)動可以讀取對應X軸(zhou)位(wei)(wei)置(zhi)的Y坐標值。可以通過(guo)“左(zuo)移(yi)”，“右移(yi)”或(huo)者鼠(shu)標點(dian)擊改變定位(wei)(wei)線的位(wei)(wei)置(zhi)

4 誤(wu)(wu)差曲線(xian)(xian)數據與誤(wu)(wu)差曲線(xian)(xian)

當選擇互感器是IEC60044-1的(de)(de)保護(hu)類型時，CT分(fen)析試(shi)驗還會繪制互感器的(de)(de)誤(wu)(wu)(wu)差(cha)(cha)(cha)曲(qu)線(xian)(xian)，并列出誤(wu)(wu)(wu)差(cha)(cha)(cha)曲(qu)線(xian)(xian)數(shu)據(ju)，誤(wu)(wu)(wu)差(cha)(cha)(cha)展(zhan)(zhan)示(shi)方式如圖5.4. 誤(wu)(wu)(wu)差(cha)(cha)(cha)曲(qu)線(xian)(xian)數(shu)據(ju)展(zhan)(zhan)示(shi)如圖5.2，但是展(zhan)(zhan)示(shi)誤(wu)(wu)(wu)差(cha)(cha)(cha)曲(qu)線(xian)(xian)數(shu)據(ju)時沒有拐(guai)點電壓和(he)拐(guai)點電流項目顯示(shi)，誤(wu)(wu)(wu)差(cha)(cha)(cha)曲(qu)線(xian)(xian)窗口(kou)(kou)中的(de)(de)曲(qu)線(xian)(xian)對比功能(neng)和(he)磁(ci)化(hua)(hua)曲(qu)線(xian)(xian)窗口(kou)(kou)中的(de)(de)曲(qu)線(xian)(xian)對比功能(neng)*，詳細說明(ming)見磁(ci)化(hua)(hua)曲(qu)線(xian)(xian)的(de)(de)曲(qu)線(xian)(xian)對比說明(ming)。

5 比差(cha)(cha)角差(cha)(cha)試驗結果

在(zai)CT分析試(shi)驗完成后，互感(gan)器的(de)比(bi)差(cha)，角(jiao)(jiao)差(cha)，匝數比(bi)，匝數比(bi)誤差(cha)，極(ji)性也會被(bei)顯示(shi)，點(dian)擊“比(bi)差(cha)與角(jiao)(jiao)差(cha)”，則比(bi)差(cha)與角(jiao)(jiao)差(cha)的(de)試(shi)驗結(jie)果顯示(shi)如圖5.5所示(shi)。

比差(cha)角(jiao)差(cha)結果展(zhan)示界面中(zhong)，各參(can)數定義(yi)如表5.9所示。

表(biao)5.9 CT分析試驗比差與(yu)角(jiao)差展示

參數(shu)	參數說明
額定一次電(dian)流	啟動試驗前所設置的互感器參數，用于匝數比誤差計算
額定二次(ci)電流	啟(qi)動試驗前所(suo)設置的互感器參數，用于匝數比誤差計算
標準	啟(qi)動(dong)試驗前所設(she)置的(de)互感器參數，比(bi)差角(jiao)差檢測是按照此(ci)標準進(jin)行的(de)
頻(pin)率	啟動試(shi)驗前所(suo)設置(zhi)的互感器參(can)數，比(bi)差(cha)角差(cha)結果在此頻率下檢測得到
匝數(shu)比	實測的互(hu)感器匝數比
匝數比誤差	實(shi)測的匝數(shu)(shu)比與額(e)定(ding)電(dian)流比之(zhi)間(jian)的誤(wu)差，計(ji)算公式為：（實(shi)測匝數(shu)(shu)比-額(e)定(ding)電(dian)流比）/額(e)定(ding)電(dian)流比。其(qi)中額(e)定(ding)電(dian)流比為：（額(e)定(ding)一(yi)次電(dian)流/額(e)定(ding)二次電(dian)流）
極性(xing)	實測的電流(liu)互感器當前接線極性(xing)，顯示為(wei)同極性(xing)（即-極性(xing)）或反極性(xing)（即+極性(xing)）
額定(ding)負(fu)荷	啟動試(shi)驗前(qian)所設置(zhi)的(de)互感(gan)器參數，用于比差角差計算(suan)
額定功率(lv)因數	啟(qi)動(dong)試驗前所設置(zhi)的互感器參數(shu)，用于比差角差計算
額(e)定負荷比差(cha)角差(cha)	當互感器(qi)連接負(fu)荷為額(e)定負(fu)荷時的比差(cha)和角度差(cha)數據
操作負荷	啟動試(shi)驗前所設(she)置的互感(gan)器參數，用(yong)于(yu)比差角差計算(suan)
操作功率因數	啟動(dong)試驗前所設置的互感器參數，用于比差(cha)角差(cha)計算(suan)
操作負荷(he)比差角差	當互感(gan)器連接(jie)負(fu)荷(he)為操作負(fu)荷(he)時(shi)的比(bi)差和角度(du)差數(shu)據(ju)

6 線(xian)圈(quan)電阻

CT分析(xi)試驗完成后，點擊線(xian)圈(quan)電阻按鈕則(ze)圖5.6所示的線(xian)圈(quan)電阻實測參數窗(chuang)體會(hui)被加載。

7 誤差曲(qu)(qu)線數據與誤差曲(qu)(qu)線

當選擇互感器是(shi)IEC60044-1的保護類型時，CT分析(xi)試驗(yan)還(huan)會繪制互感器的誤(wu)(wu)差曲(qu)(qu)線，并(bing)列出誤(wu)(wu)差曲(qu)(qu)線數據(ju)，誤(wu)(wu)差曲(qu)(qu)線展示(shi)(shi)方式如圖5.4. 誤(wu)(wu)差曲(qu)(qu)線數據(ju)展示(shi)(shi)如圖5.2，但是(shi)展示(shi)(shi)誤(wu)(wu)差曲(qu)(qu)線數據(ju)時沒(mei)有(you)拐(guai)點電(dian)壓和拐(guai)點電(dian)流項(xiang)目顯示(shi)(shi)。

8 比差(cha)角差(cha)試驗結果

在CT分析試驗完成后(hou)，互感器的比(bi)(bi)(bi)差(cha)(cha)，角差(cha)(cha)，匝數比(bi)(bi)(bi)，匝數比(bi)(bi)(bi)誤差(cha)(cha)，極性(xing)也會被顯(xian)示，點擊“比(bi)(bi)(bi)差(cha)(cha)與(yu)(yu)角差(cha)(cha)”，則(ze)比(bi)(bi)(bi)差(cha)(cha)與(yu)(yu)角差(cha)(cha)的試驗結果顯(xian)示如圖5.5所示。

在(zai)線(xian)圈電(dian)阻(zu)實測參(can)數展(zhan)示界面中各個項(xiang)目的定(ding)義如表5.10所示。

圖5.10 線圈電阻界面參(can)數(shu)說明

名稱	參數說明
測試電流	測試時(shi)加載到二次繞組上的(de)實際電流(liu)值
測試溫度	測試時的實際環境溫度值
測試電壓(ya)	測試時二次繞(rao)組上所檢測到的電(dian)壓值
線圈(quan)電阻	當前環境溫(wen)度所檢測到的線(xian)圈電阻值(zhi)
參考(kao)溫(wen)度	按照標準需要換(huan)算到的溫度(du)
線圈(quan)電阻	按照(zhao)公式(shi)所(suo)換算得到(dao)的(de)線圈電(dian)阻值，其中Kcopper使用的(de)是銅材料的(de)電(dian)阻溫度系數

9 勵磁參數與測試(shi)評(ping)估

在(zai)CT分析(xi)試驗結果展(zhan)示(shi)(shi)界面中點擊“勵(li)(li)磁參(can)數與測(ce)試評估(gu)”結果按鈕，則根(gen)據(ju)勵(li)(li)磁特性所(suo)測(ce)量得到的勵(li)(li)磁參(can)數和(he)自動(dong)評估(gu)結果將(jiang)會以圖(tu)5.7的形式展(zhan)示(shi)(shi)。勵(li)(li)磁參(can)數計(ji)算項目根(gen)據(ju)所(suo)選互(hu)感器等級不同而(er)不同，詳細的參(can)數說明參(can)見第(di)6章自動(dong)評估(gu)與銘牌推測(ce)。

圖5.7界面的下方(fang)是(shi)自(zi)(zi)動評(ping)(ping)估(gu)(gu)(gu)(gu)結果，自(zi)(zi)動評(ping)(ping)估(gu)(gu)(gu)(gu)結果包括(kuo)單項評(ping)(ping)估(gu)(gu)(gu)(gu)項目(mu)，評(ping)(ping)估(gu)(gu)(gu)(gu)標準(zhun)和終評(ping)(ping)估(gu)(gu)(gu)(gu)結果。如果單項評(ping)(ping)估(gu)(gu)(gu)(gu)通過則列表(biao)的后一列顯示(shi)合(he)格，否(fou)則顯示(shi)不合(he)格并且該項的顏色會變成紅(hong)色。詳細的評(ping)(ping)估(gu)(gu)(gu)(gu)說(shuo)明(ming)和評(ping)(ping)估(gu)(gu)(gu)(gu)條件請參見“第6章自(zi)(zi)動評(ping)(ping)估(gu)(gu)(gu)(gu)與銘牌(pai)推(tui)測(ce)”。

5.3 CT比差角差測(ce)量

5.3.1 比差角差測量試驗(yan)參(can)數(shu)設置

比差角差測(ce)量試驗的參數(shu)設(she)置(zhi)界面與(yu)CT分析(xi)參數(shu)設(she)置(zhi)界面和設(she)置(zhi)項目*，詳(xiang)情請參見5.2.1CT分析(xi)參數(shu)設(she)置(zhi)章節

5.3.2比(bi)差角(jiao)差試驗流程(cheng)

進行(xing)比差(cha)角差(cha)測(ce)量試驗(yan)時(shi)(shi)，試驗(yan)的步驟與CT分析(xi)*，詳(xiang)情(qing)請參照5.2.2CT分析(xi)試驗(yan)流程章節(jie)。CT比差(cha)角差(cha)測(ce)量時(shi)(shi)典型(xing)的試驗(yan)流程如下“

線圈(quan)電阻檢(jian)測(ce)->一次消(xiao)磁->二次消(xiao)磁->精細調壓測(ce)量比差(cha)(cha)角(jiao)差(cha)(cha)->粗(cu)調測(ce)量比差(cha)(cha)角(jiao)差(cha)(cha)

1）如果(guo)用(yong)戶(hu)選擇的工作(zuo)模式是非自(zi)動獲取飽(bao)和電壓(ya)則一次(ci)消磁過程將被跳過

2）如果互感器的飽和電(dian)壓較低，則粗調測量(liang)比差(cha)角差(cha)的流程(cheng)將被跳過

在試驗(yan)過程中，左下角會提示當前儀器的(de)功(gong)率(lv)輸出和試驗(yan)運(yun)行狀態。

5.3.3 比差角差試驗結果展示

比差(cha)角(jiao)(jiao)差(cha)試(shi)驗結果(guo)(guo)展示與CT分(fen)析試(shi)驗結果(guo)(guo)展示中的(de)(de)“比差(cha)角(jiao)(jiao)差(cha)”結果(guo)(guo)展示部分(fen)是**的(de)(de)，詳(xiang)情請參(can)見5.2.3 CT分(fen)析試(shi)驗結果(guo)(guo)展示

5.4 CT線圈電(dian)阻測量

CT線(xian)圈(quan)電(dian)(dian)阻(zu)測(ce)量試驗(yan)(yan)(yan)(yan)只需設置互感器編號。選擇(ze)線(xian)圈(quan)電(dian)(dian)阻(zu)測(ce)量后，儀(yi)器給(gei)出試驗(yan)(yan)(yan)(yan)的(de)連線(xian)參考(kao)圖。啟動(dong)試驗(yan)(yan)(yan)(yan)，儀(yi)器輸出0.5A直(zhi)流(liu)電(dian)(dian)流(liu)對(dui)線(xian)圈(quan)進(jin)行充電(dian)(dian)，當線(xian)圈(quan)電(dian)(dian)阻(zu)值穩定(ding)以后試驗(yan)(yan)(yan)(yan)自動(dong)停(ting)止，并記錄(lu)停(ting)止時刻(ke)的(de)線(xian)圈(quan)電(dian)(dian)阻(zu)值和環(huan)境(jing)溫(wen)(wen)度值（儀(yi)器面板部位(wei)帶(dai)有溫(wen)(wen)度傳(chuan)感器，用于測(ce)量當前的(de)環(huan)境(jing)溫(wen)(wen)度）。

試驗結束后儀(yi)器還(huan)會自動計算溫度(du)為(wei)75攝(she)氏度(du)時的(de)參(can)考電(dian)阻值。

試驗完(wan)成(cheng)后結果展示(shi)方式與5.2.3章節中的(de)線圈電阻展示(shi)頁(ye)面(mian)**。

5.5 CT極性檢(jian)查

CT極性(xing)試(shi)驗(yan)(yan)只(zhi)需設置互感器(qi)編號。選擇(ze)極性(xing)檢查試(shi)驗(yan)(yan)后，儀(yi)器(qi)給出試(shi)驗(yan)(yan)的(de)連(lian)線(xian)參(can)考(kao)圖。啟動試(shi)驗(yan)(yan)后，儀(yi)器(qi)輸出交流(liu)正弦電壓(ya)(ya)(ya)至CT二(er)次(ci)繞(rao)組，并測(ce)量CT一(yi)次(ci)側繞(rao)組的(de)電壓(ya)(ya)(ya)，當(dang)CT一(yi)次(ci)繞(rao)組電壓(ya)(ya)(ya)超(chao)過測(ce)量閾值或CT二(er)次(ci)電壓(ya)(ya)(ya)輸出至大(da)電壓(ya)(ya)(ya)時，儀(yi)器(qi)計算此時的(de)CT極性(xing)。儀(yi)器(qi)按照如下(xia)標準來判定(ding)被測(ce)CT的(de)極性(xing)：

90度>當一次電壓與二(er)次電壓相角(jiao)差>;-90度 時計(ji)算結(jie)果為(wei)同極(ji)性(xing)(xing)(xing)（-極(ji)性(xing)(xing)(xing)），否則(ze)為(wei)反極(ji)性(xing)(xing)(xing)（+極(ji)性(xing)(xing)(xing)）

極性檢查(cha)試驗(yan)完(wan)成后，試驗(yan)結(jie)果如圖5.8所(suo)示。

5.6 CT二次負荷測量(liang)

5.6.1 CT二(er)次負荷測量參數設置

二(er)(er)(er)次負(fu)荷(he)測(ce)量的(de)試(shi)驗(yan)(yan)參數(shu)(shu)設置項(xiang)目包括(kuo)互感器(qi)編號，測(ce)試(shi)電流，測(ce)試(shi)頻率，選擇二(er)(er)(er)次負(fu)荷(he)測(ce)量后(hou)圖5.9所(suo)示(shi)的(de)參數(shu)(shu)設置窗體將會(hui)被加載。啟動二(er)(er)(er)次負(fu)荷(he)試(shi)驗(yan)(yan)后(hou)儀器(qi)會(hui)根據所(suo)選擇的(de)參數(shu)(shu)輸(shu)出(chu)一個恒定的(de)正弦電流至CT二(er)(er)(er)次負(fu)荷(he)回路。

圖5.9所示的(de)(de)二次負荷參數設(she)置界面(mian)中(zhong)，3個試驗參數的(de)(de)意義為：

1> CT額定(ding)二次電流

此參數(shu)不影響試驗流程，僅用(yong)于(yu)計(ji)算二次(ci)回(hui)路(lu)的(de)(de)負荷(he)值，例如測得(de)二次(ci)回(hui)路(lu)的(de)(de)阻(zu)抗為(wei)2ohm，如果選擇(ze)(ze)額(e)定(ding)二次(ci)電(dian)流為(wei)1A，則(ze)對(dui)應的(de)(de)二次(ci)負荷(he)為(wei)2VA，如果選擇(ze)(ze)的(de)(de)額(e)定(ding)二次(ci)電(dian)流為(wei)5A，則(ze)對(dui)應的(de)(de)二次(ci)負荷(he)為(wei)50VA

2> 額定(ding)頻(pin)率(lv)

此參數用(yong)于(yu)控制(zhi)輸出(chu)電(dian)流的(de)頻率值(zhi)，如果選擇50Hz，則(ze)輸出(chu)電(dian)流的(de)頻率為50Hz，否(fou)則(ze)輸出(chu)電(dian)流頻率為60Hz

3> 互(hu)感器編號：組成保存試(shi)驗文件的名稱

5.6.2 CT二次負荷測量試(shi)驗流程

儀器的二次負(fu)荷(he)測量分(fen)為兩(liang)檔(dang)，兩(liang)檔(dang)的輸(shu)出電流(liu)值（RMS）和對應的量程為:

1) 測(ce)試(shi)電流(liu)為0.5A（RMS），測(ce)量量程為0~80ohm

2）測(ce)試電(dian)流為(wei)(wei)0.25A（RMS），測(ce)量(liang)量(liang)程(cheng)為(wei)(wei)0~160ohm

試驗啟動后儀器首(shou)先輸(shu)出(chu)0.5A(RMS)測試電(dian)流(liu)，如果發現(xian)被測負(fu)載超過(guo)了量程范圍，則儀器自動調整(zheng)輸(shu)出(chu)電(dian)流(liu)值至0.25A（RMS），再次進行測量

5.6.3 CT二次負(fu)荷測量試(shi)驗結果

CT二次負荷的測量結果如圖5.10所示。

二(er)次負荷試驗結果頁面中的各個參數定義如表(biao)5.11所示。

表 5.11 二(er)次(ci)負荷(he)試驗(yan)結(jie)果參數

名稱(cheng)	參數說(shuo)明
額定二次負荷	以VA形式(shi)或阻抗形式(shi)表(biao)示(shi)的(de)儀器額定(ding)二(er)次負(fu)荷(he)值
額(e)定(ding)功率因數	額定二(er)次負荷的功率因數值
測試電流	以有效值(zhi)表示的(de)實際測試電流值(zhi)
測試電壓	加載在二次回路上的電壓有效值
測試頻率	加載在二次回路(lu)上的電流有效值
二次負荷	實(shi)測的二(er)次(ci)負荷(he)值以VA形式表(biao)示，其值為：額定二(er)次(ci)電流(liu)(liu)*額定二(er)次(ci)電流(liu)(liu)*實(shi)測二(er)次(ci)阻抗
功率因(yin)數	實測二次回路的(de)功率因(yin)數(shu)值
二次阻抗	實測(ce)二次回路的(de)阻抗值

5.7 PT線(xian)圈(quan)電(dian)阻測量

選擇PT線圈電(dian)阻測量后，儀器給(gei)出試驗的(de)連線參考圖和(he)測試電(dian)流(liu)選擇界(jie)面如圖5.11。

啟(qi)動試驗(yan)(yan)，儀器(qi)輸出0.5A(或0.05A,0.005A)直(zhi)流電(dian)(dian)流對線(xian)(xian)圈(quan)進行充電(dian)(dian)，當線(xian)(xian)圈(quan)電(dian)(dian)阻(zu)值(zhi)(zhi)穩(wen)定以后試驗(yan)(yan)自動停止，并記錄停止時刻的線(xian)(xian)圈(quan)電(dian)(dian)阻(zu)值(zhi)(zhi)和環境(jing)溫度(du)值(zhi)(zhi)（儀器(qi)面板部位帶有(you)溫度(du)傳感器(qi)，用于測量當前的環境(jing)溫度(du)）。試驗(yan)(yan)完(wan)成后結果展(zhan)示方式與5.2.3章節中(zhong)的線(xian)(xian)圈(quan)電(dian)(dian)阻(zu)展(zhan)示頁面*但是PT線(xian)(xian)圈(quan)電(dian)(dian)阻(zu)試驗(yan)(yan)沒有(you)計算75攝(she)氏度(du)參考電(dian)(dian)阻(zu)值(zhi)(zhi)。

對于電磁式(shi)PT，一次(ci)側和二次(ci)側線圈電阻(zu)都可(ke)以通過該項目(mu)檢(jian)測，對于CVT式(shi)的(de)電壓互感器(qi)只能檢(jian)測二次(ci)線圈的(de)電阻(zu)值。

5.8 PT極性(xing)檢查

PT極性(xing)(xing)試驗(yan)只需(xu)設置互感器(qi)的(de)編號(hao)即可。選擇極性(xing)(xing)檢查試驗(yan)后，儀器(qi)給出試驗(yan)的(de)連線(xian)參考圖。啟(qi)動試驗(yan)后，儀器(qi)輸(shu)出交流(liu)正弦電(dian)壓(ya)至PT一次(ci)繞組，并測(ce)量(liang)PT二次(ci)側繞組的(de)電(dian)壓(ya)，當PT二次(ci)繞組電(dian)壓(ya)超過測(ce)量(liang)閾(yu)值或PT一次(ci)電(dian)壓(ya)輸(shu)出至大電(dian)壓(ya)時，儀器(qi)計算此時的(de)PT極性(xing)(xing)。儀器(qi)按照如下標準來判定被測(ce)PT的(de)極性(xing)(xing)：

90度>當一次電(dian)(dian)壓與二次電(dian)(dian)壓相角差>-90度 時計(ji)算結果為同極性(xing)（-極性(xing)），否則為反極性(xing)（+極性(xing)）

極性檢(jian)查試(shi)驗完成后，試(shi)驗結(jie)果與(yu)圖5.8*。

5.9 PT二次負荷測量

5.9.1 PT二次負荷(he)測量參(can)數(shu)設置

PT二(er)(er)次負(fu)(fu)荷(he)測(ce)量的(de)試(shi)驗參(can)數設(she)置(zhi)項目包括(kuo)互感器(qi)編號，測(ce)試(shi)電壓，測(ce)試(shi)頻率，選擇二(er)(er)次負(fu)(fu)荷(he)測(ce)量后圖(tu)5.12所示的(de)參(can)數設(she)置(zhi)窗(chuang)體(ti)將(jiang)會(hui)被加(jia)載。啟動二(er)(er)次負(fu)(fu)荷(he)試(shi)驗后儀器(qi)會(hui)根據所選擇的(de)參(can)數輸(shu)出一(yi)個恒(heng)定的(de)正弦電壓至PT二(er)(er)次負(fu)(fu)荷(he)回(hui)路。

圖5.12所示(shi)的二次負荷參(can)數設置界面中，3個試驗參(can)數的意(yi)義為(wei)：

互感(gan)器(qi)編號(hao)

用(yong)于組成保存(cun)試(shi)驗時(shi)的文件名稱

2> 額定頻率

此參數用于控制輸出電壓(ya)的頻(pin)(pin)率值，如果選擇50Hz，則輸出電壓(ya)的頻(pin)(pin)率為(wei)50Hz，否則輸出電壓(ya)頻(pin)(pin)率為(wei)60Hz

PT額定二次電壓

儀(yi)器以此參數(shu)來計算大(da)輸出(chu)電壓值，試驗(yan)被啟動后儀(yi)器輸出(chu)幅值為互感器二次(ci)額定值大(da)小的電壓至二次(ci)回路，并在此電壓下測量二次(ci)回路的阻抗(kang)，并依據(ju)二次(ci)額定電壓計算負荷值。

二(er)次負荷=（二(er)次額(e)定電(dian)壓×二(er)次額(e)定電(dian)壓）/二(er)次回路阻抗

5.9.2 PT二(er)次負荷測(ce)量試驗流程(cheng)

試驗啟動后儀(yi)器首先輸出(chu)很(hen)小的測試電(dian)壓(ya)至二次(ci)(ci)(ci)回路，并(bing)逐步(bu)升(sheng)壓(ya)，同時檢測是(shi)否(fou)過載(zai)，如果發(fa)現輸出(chu)電(dian)流過載(zai)，則儀(yi)器停止升(sheng)壓(ya)，否(fou)則一直升(sheng)至二次(ci)(ci)(ci)額定電(dian)壓(ya)值。在(zai)高輸出(chu)電(dian)壓(ya)處測量二次(ci)(ci)(ci)回路的阻抗(kang)值，并(bing)依據額定二次(ci)(ci)(ci)電(dian)壓(ya)計算二次(ci)(ci)(ci)負荷(he)。

5.9.3 PT二次負荷測量試驗(yan)結果

PT二次(ci)負(fu)荷的展(zhan)示頁面與(yu)CT二次(ci)展(zhan)示頁面*，只是在PT二次(ci)負(fu)荷展(zhan)示頁面并沒有額定(ding)負(fu)荷的顯示，其(qi)參(can)數含義也是一樣的，詳情參(can)見(jian)5.6.3節

5.10 PT變比

5.10.1 PT變(bian)比(bi)試驗參數設置

PT變比(bi)試驗的(de)參數設置界面如圖5.13，其中(zhong)需(xu)要設置的(de)參數定義如表(biao)5.12

圖5.12 PT變(bian)比參數設置

名稱(cheng)	參數說明
生產廠(chang)家	此項目僅用于生成WORD試驗報告時對互感器進行標識，與試驗流程(cheng)無(wu)關(guan)
互感器型號(hao)	此(ci)項目僅(jin)用于(yu)生成WORD試驗(yan)報告時對(dui)互(hu)感(gan)器進行(xing)標識，與試驗(yan)流程無關
互感器編號(hao)	此項目僅用(yong)于生成WORD試驗(yan)報告時(shi)對互感器進行標(biao)識和(he)保存試驗(yan)時(shi)組成保存的(de)文件名(ming)稱(cheng)，與試驗(yan)流程無(wu)關(guan)
額定一次(ci)電壓	設(she)置電壓互感器的(de)額定(ding)(ding)一次電壓值(zhi)，用(yong)于計算(suan)額定(ding)(ding)變比
額(e)定二次電壓(ya)	設置電壓(ya)(ya)(ya)互感(gan)器的額定二次(ci)電壓(ya)(ya)(ya)值(zhi)，用于(yu)計算額定變(bian)比(bi)，互感(gan)器額定二次(ci)電壓(ya)(ya)(ya)由兩部(bu)分(fen)(fen)組(zu)成，實際電壓(ya)(ya)(ya)是2部(bu)分(fen)(fen)相(xiang)乘

5.10.2PT變比(bi)試(shi)驗流程

進行PT變比試驗時，試驗流程如下：

反接判斷->匝數(shu)比和極性(xing)測量(liang)

5.10.3 PT變比結果(guo)展示

PT變比試(shi)驗結果顯示檢測得到的一次線圈電阻值，匝數(shu)比和連接(jie)極(ji)性。

5.11 PT勵(li)磁試驗

5.11.1 PT勵磁(ci)試驗參數設置

PT勵磁試驗的(de)參數設置界面如圖5.14，其中需(xu)要(yao)設置的(de)參數定義如表5.13

圖(tu)5.13 PT變比參數設(she)置

名稱	參(can)數(shu)說(shuo)明
互感器編號	此項目僅用于生(sheng)成WORD試(shi)驗(yan)報(bao)告時對互感器(qi)進行標識和(he)保存試(shi)驗(yan)時組(zu)成保存的(de)文(wen)件名稱(cheng)，與試(shi)驗(yan)流程(cheng)無關(guan)
額(e)定一(yi)次電壓	設置電(dian)壓互感器的額定一次電(dian)壓值，此項目僅用于生成(cheng)WORD試(shi)驗報告時(shi)對(dui)互感器進行標識和保存試(shi)驗時(shi)組成(cheng)保存的文(wen)件名稱(cheng)，與試(shi)驗流(liu)程無關
額定二次電壓	設置電(dian)壓互(hu)感(gan)(gan)器(qi)的(de)額(e)(e)(e)定二次電(dian)壓值(zhi)，用于控制互(hu)感(gan)(gan)器(qi)升壓過(guo)程，試驗(yan)過(guo)程儀(yi)器(qi)升壓不會超過(guo)互(hu)感(gan)(gan)器(qi)額(e)(e)(e)定二次電(dian)壓的(de)1.2倍(bei)，試驗(yan)完成后儀(yi)器(qi)根據此(ci)數值(zhi)計(ji)算各點的(de)勵磁損耗。額(e)(e)(e)定二次電(dian)壓由輸入文本框(kuang)和倍(bei)數復選框(kuang)2部(bu)分組成。
測試頻率	選(xuan)擇互感器的額(e)定(ding)工作頻(pin)率(lv)
一次直流電(dian)阻	PT一次繞組直流電(dian)阻的實測值(zhi)，用于(yu)推算(suan)PT比差和角(jiao)差值(zhi)
二次負荷	PT所(suo)連接二(er)次(ci)負荷的(de)阻抗和(he)功率(lv)因素，用于推算PT比差和(he)角差值
PT匝數比	PT匝數比(bi)，PT變比(bi)試驗的實測(ce)值，用于(yu)推算PT比(bi)差和(he)角差值

5.11.2 PT勵磁(ci)試驗(yan)結(jie)果展示

PT勵磁(ci)試驗結(jie)果(guo)包括PT勵磁(ci)曲線(xian)，PT勵磁(ci)曲線(xian)數據，PT二次線(xian)圈電(dian)阻(zu)，20%，50%，80%，100%和(he)120%額定二次電(dian)壓位置所對(dui)應的PT二次勵磁(ci)電(dian)流，80%，100%和(he)120%額定電(dian)壓位置處(chu)的比差和(he)角差值

5.12生成(cheng)試驗(yan)報告(gao)

使用CTPT分析(xi)儀(yi)的(de)軟件(jian)可(ke)以(yi)自(zi)動生成(cheng)WORD格式的(de)試(shi)驗(yan)報(bao)告，試(shi)驗(yan)報(bao)告以(yi)MS WORD2003的(de)”*.DOC”格式保(bao)存(cun)。試(shi)驗(yan)完成(cheng)后在“查(cha)看結果(guo)”或查(cha)看歷史結果(guo)界面點擊生成(cheng)按(an)鈕，則儀(yi)器會(hui)自(zi)動制(zhi)作對應試(shi)驗(yan)項目的(de)試(shi)驗(yan)報(bao)，圖5.15展示(shi)了CT分析(xi)試(shi)驗(yan)報(bao)告的(de)首頁。

圖5.15 CT分析(xi)試驗報告首頁

第(di)六章(zhang) 自動評估與(yu)銘牌推測

6.1 自動評估

6.1.1 自動評估定義(yi)

自動(dong)評(ping)估(gu)(gu)是(shi)指(zhi)將實測的參數與當前所選(xuan)標準規定(ding)值進(jin)行對(dui)(dui)比，如果實測參數全部符合(he)(he)標準的規定(ding)則互感(gan)器檢(jian)測是(shi)合(he)(he)格(ge)的，否則互感(gan)器檢(jian)測不合(he)(he)格(ge)。由(you)于互感(gan)器的很多參數與互感(gan)器所連接的負載有(you)關，因此儀器的自動(dong)評(ping)估(gu)(gu)選(xuan)項有(you)“僅對(dui)(dui)操作負荷(he)評(ping)估(gu)(gu)”和“對(dui)(dui)額定(ding)和操作負荷(he)評(ping)估(gu)(gu)”評(ping)估(gu)(gu)兩種選(xuan)擇(ze)。

選(xuan)擇“僅(jin)對(dui)(dui)操(cao)作負(fu)(fu)(fu)荷(he)評估”時，儀器(qi)僅(jin)僅(jin)將(jiang)操(cao)作負(fu)(fu)(fu)荷(he)條(tiao)件下計(ji)(ji)算(suan)的參數與(yu)標(biao)(biao)準規定(ding)的值進行對(dui)(dui)比。如果(guo)選(xuan)擇了“對(dui)(dui)額(e)定(ding)負(fu)(fu)(fu)荷(he)和(he)操(cao)作負(fu)(fu)(fu)荷(he)評估”，則(ze)儀器(qi)將(jiang)額(e)定(ding)負(fu)(fu)(fu)荷(he)和(he)操(cao)作負(fu)(fu)(fu)荷(he)兩種條(tiao)件下計(ji)(ji)算(suan)得(de)到參數都與(yu)標(biao)(biao)準規定(ding)值進行對(dui)(dui)比，只有(you)兩種條(tiao)件下計(ji)(ji)算(suan)所得(de)的參數都合格時，互感器(qi)檢測才顯示為(wei)合格

注意：自動評估和銘牌推(tui)測僅僅是針對與CT分析項(xiang)目進行(xing)，對于其他(ta)的(de)試驗項(xiang)目無效

6.1.2 自(zi)動評估項目(mu)和合格條件

對于不同等(deng)級的(de)互感器(qi)，自動評(ping)估(gu)的(de)項目(mu)是不一樣的(de)，詳細(xi)的(de)評(ping)估(gu)項目(mu)和(he)評(ping)估(gu)合格(ge)條件見表6.1，~表6.5

表6.1 IEC60044-1計量(liang)類電流互感器的評估項(xiang)目和合(he)格條件

互(hu)感器等級	評估項目	評估合格(ge)條件
0.1級	1） 儀表安保系數FS 2） 25%，100%額定負(fu)荷和操作(zuo)負(fu)荷條件下二次電(dian)流(liu)為5%，20%，50%，100%，120%額定電(dian)流(liu)時(shi)的(de)電(dian)流(liu)比(bi)差角差	1）實(shi)測(ce)FS<=FS額定 2）5%額定(ding)二次電(dian)流比(bi)差<=0.4% 20%額定二(er)次電流比差<=0.2% 100，120%額定(ding)二次電流比差(cha)<=0.1% 5%額定(ding)二次電(dian)流角差<=15分(fen) 20%額定二次(ci)電流比差<=8分 100，120%額定(ding)二次電流比差<=5分
0.2級(ji)	1） 儀表安(an)保系數FS 2） 25%，100%額定(ding)(ding)負(fu)荷和(he)操作負(fu)荷條(tiao)件下二次(ci)電(dian)(dian)流為5%，20%，50%，100%，120%額定(ding)(ding)電(dian)(dian)流時的電(dian)(dian)流比差和(he)角差	1）實測FS<=FS額(e)定(ding) 2）5%額定二次電流比差(cha)<=0.75% 20%額定(ding)二(er)次電流比差<=0.35% 100，120%額定二次電流(liu)比差<=0.2% 5%額定二次(ci)電(dian)流角差<=30分 20%額(e)定二次電流比差<=15分 100，120%額定二次電(dian)流比差<=10分
0.2S級	1） 儀(yi)表安保(bao)系數FS 2） 25%，100%額(e)定負(fu)荷和(he)操作(zuo)負(fu)荷條件(jian)下二次電流(liu)(liu)為1%，5%，20%，50%，100%，120%額(e)定電流(liu)(liu)時的電流(liu)(liu)比差和(he)角差	1）實(shi)測FS<=FS額(e)定 2）1%額定二次(ci)電流比差<=0.75% 5%額定二次電流(liu)比(bi)差<=0.35% 20，100，120%額(e)定二次電流(liu)比差<=0.2% 1%額定二次(ci)電流角(jiao)差<=30分 5%額定二次(ci)電流比差<=15分 20，100，120%額定(ding)二次電流比差(cha)<=10分
0.5級	1） 儀表安(an)保系數FS 2） 25%，100%額定負荷和(he)操(cao)作負荷條(tiao)件下二次(ci)電流為(wei)5%，20%，50%，100%，120%額定電流時的電流比(bi)差和(he)角差	1）實測FS<=FS額定 2）5%額定二次電流比差<=1.5% 20%額定二次(ci)電(dian)流比(bi)差(cha)<=0.75% 100，120%額定二次電流比(bi)差<=0.5% 5%額定(ding)二次電流角差<=90分 20%額定(ding)二次電流比差<=45分 100，120%額定二(er)次電流比差<=30分
0.5S級	1） 儀表安保系數FS 2） 25%，100%額定(ding)負荷和(he)操作負荷條件下二次電流(liu)為1%，5%，20%，50%，100%，120%額定(ding)電流(liu)時(shi)的電流(liu)比差和(he)角差	1）實測FS<=FS額定 2）1%額定二次(ci)電流比差<=1.5% 5%額(e)定二次(ci)電(dian)流比差<=0.75% 20，100，120%額定二(er)次(ci)電流比(bi)差<=0.5% 1%額定二次電流角差<=90分(fen) 5%額定二次電流比差<45分(fen) 20，100，120%額定二次電(dian)流比差(cha)<30分(fen)
1.0級(ji)	1） 儀表安保系數FS 2） 25%，100%額定負荷和操作負荷條件下二次(ci)電(dian)(dian)流為5%，20%，50%，100%，120%額定電(dian)(dian)流時(shi)的(de)電(dian)(dian)流比(bi)差和角差	1）實測FS<=FS額定 2）5%額定二次電流比(bi)差<=3% 20%額定二次(ci)電流(liu)比差<=1.5% 100，120%額定二次電流比(bi)差<=1.0% 5%額定二次電流角差<=180分 20%額定二(er)次電流比差<=90分 100，120%額定二次電流比差<=60分
3.0級(ji)	1） 儀表安保(bao)系數FS 2）&nbsp;50%，100%額(e)定負荷和操(cao)作負荷條件下二次電流為50%，120%額(e)定電流時的(de)電流比差	1）實測FS<=FS額定(ding) 2）50%額(e)定二次電流比差<=3% 120%額定二次(ci)電流(liu)比差<=3%
5.0級(ji)	1） 儀(yi)表(biao)安保系數FS 2） 50%，100%額定(ding)負荷和操作負荷條件下二次電(dian)流為(wei)50%，120%額定(ding)電(dian)流時的電(dian)流比差	1）實測FS<=FS額(e)定(ding) 2）50%額定二次(ci)電(dian)流(liu)比差<=5% 120%額(e)定二次(ci)電流比差<=5%

表(biao)6. SEQ 圖表(biao) * ARABIC 2 IEC60044-1 保(bao)護類電流(liu)互感器(qi)等評估(gu)項目和評估(gu)合格條件

互(hu)感(gan)器等級	評估項目	評估(gu)合格條(tiao)件
5P	準確限(xian)值系數ALF 100%額定電流(liu)處比差 100%額定(ding)電流處角差	實測ALF>=額定ALF 100%額定電流比(bi)差<=1% 100%額(e)定電流角差<=60分
10P	準確(que)限值系(xi)數ALF 100%額定電流處比差	實(shi)測ALF>=額(e)定ALF 100%額定電流比差<=3%
5PR	準(zhun)確限值系數ALF 2）100%額定電流處比差 3）100%額定電流處角差 4）剩(sheng)磁系數Kr	1）實測ALF>=額定ALF 2）100%額定(ding)電(dian)流比差(cha)<=1% 3）100%額(e)定電(dian)流(liu)角差<=60分 4）Kr<=10%
10PR	準確(que)限(xian)值系數ALF 2）100%額定電(dian)流(liu)處比差 3）剩(sheng)磁系數Kr	1）實測(ce)ALF>=額(e)定ALF 2）100%額定電流比差<=3% 3）Kr<=10%
PX	匝(za)數(shu)比 準(zhun)確限制電壓Ek 準確限(xian)制電流Ie 面積系(xi)數Kx 75攝(she)氏度線(xian)圈電阻	1）匝數比誤差<=0.25% 2）Ek實測值(zhi)>=Ek額定值(zhi) 3）Ie實(shi)測(ce)值>=Ie額定值 4）Kx實測(ce)值>=額(e)定Kx值 5）75攝氏(shi)度(du)實測線圈電阻<=額定值(zhi)

表6.3 IEC60044-6 暫態電(dian)流互(hu)感器評(ping)估項目和評(ping)估合格條件(jian)

互感器等級	評估項目	評估合(he)格條件
TPS	匝數比 準確限制電壓(ya)Val 準(zhun)確限制電流Ial 對稱短路電流系(xi)數(shu)Kssc 75攝(she)氏度線圈(quan)電(dian)阻	匝數比誤差<=0.25% Val實測值>=Val額定(ding)值 Ial實測值<=Ial額定值 K*Kssc測量>=K*Kssc額定值 5）75攝氏度(du)實(shi)測線圈電阻<=額定(ding)值
TPX	額(e)定電流(liu)處比(bi)差 額定電流處角差 額定(ding)Kssc和實測Ktd處(chu)峰瞬誤差 Kssc*Ktd額定值(zhi)與(yu)實(shi)測值(zhi) 75攝氏(shi)度(du)線圈(quan)電阻	額(e)定電流處(chu)比差(cha)<=0.5% 額定電流(liu)處角差<=30分 額定Kssc*實(shi)測(ce)Ktd處峰(feng)瞬誤差<=10% (Kssc*Ktd)實測(ce)值>=(Kssc*Ktd)額定值 75攝氏度實測線圈電阻(zu)<=額定值
TPY	額定電流處比差(cha) 額定電流處角差 額定Kssc和實測Ktd處峰瞬誤(wu)差 Kssc*Ktd額定值(zhi)與實測(ce)值(zhi) 二次(ci)時間常數Ts 剩磁系數(shu)Kr 7）75攝氏度線圈電阻	額定電流處比差<=1.0% 額定電流處角差<=60分 額定(ding)Kssc*實測(ce)Ktd處峰瞬誤差<=10% (Kssc*Ktd)實測值(zhi)>=(Kssc*Ktd)額定值(zhi) Ts實測<=30%Ts額(e)定 Kr<=10% 7）75攝(she)氏(shi)度實測線圈電阻<=額定值
TPZ	額定電流處比差 額定電(dian)流(liu)處角差 Kssc*Ktd額定值(zhi)與實測(ce)值(zhi) 二次(ci)時間常數Ts 5）75攝氏度線圈電阻(zu)	額定電流(liu)處比差<=1.0% 2）額定電流處角差<=180分 3）(Kssc*Ktd)實測值>=(Kssc*Ktd)額定值 4）Ts實測<=30%Ts額定 5）75攝氏度實測線圈電(dian)阻<=額(e)定值

表6.4 C57.13計量類互(hu)感器自(zi)動評(ping)估項目和自(zi)動評(ping)估條(tiao)件

互感器等級	自(zi)動評估項目	自動(dong)評估合格條件
0.3級	額定(ding)負荷和操(cao)作負荷下10%，100%，100%*RF額定(ding)二次電(dian)流處(chu)的電(dian)流比(bi)差	10%額定電(dian)流比差<=0.6% 100,100*RF%額定(ding)電流比差<=0.3%
0.6級	額(e)定負荷和操作負荷下10%，100%，100%*RF額(e)定二次電(dian)流處的電(dian)流比差	10%額定電流(liu)比差<=1.2% 100,100*RF%額定電流比差(cha)<=0.6%
1.2級	額定負(fu)荷和操(cao)作負(fu)荷下(xia)10%，100%，100%*RF額定二次電流處的電流比差	10%額(e)定電流比差<=2.4% 100,100*RF%額定電流比差(cha)<=1.2%

表(biao)6.5 C57.13保護(hu)類互(hu)感器(qi)自動(dong)(dong)評(ping)估(gu)項目和(he)自動(dong)(dong)評(ping)估(gu)條件

互感器等級(ji)	自動評(ping)估項目	自動評估合格條件
C	1）Vbmax與VB額(e)定(ding)值比較 2）Vbmax處的二次電(dian)流(liu)Isec 3）20*Isn處的比差 4）Vb額定(ding)值處(chu)的比差	1）Vbmax>=Vb額(e)定值(zhi)(如未輸入Vb額(e)定值(zhi)，則自動設(she)置Vb額(e)定值(zhi)為20Isec額(e)定值(zhi)，額(e)定負荷下的(de)二次端電壓Vb) 2）Vbmax處Isec>=20*Isec額定 3）20*Isn額(e)定處電流比差(cha)<=10% 4）Vb額定值處電流比差<=10%
K	1）Vbmax與VB額定值比較 2）Vbmax處的二(er)次電流Isec 3）拐點電(dian)壓 4）20*Isn處的比(bi)差 5）Vb額(e)定值處的比差	1）Vbmax>=Vb額定值 2）Vbmax處Isec>=20*Isec額定 3）拐(guai)點電壓>=70%Vb額定值 4）20*Isn額定處電(dian)流比差<=10% 5）Vb額定(ding)值處電流比(bi)差<=10%
T	1）Vbmax與VB額定(ding)值比較 2）Vbmax處的二次電流Isec 3）20*Isn處的比差(cha) 4）Vb額定值處的(de)比差	1）Vbmax>=Vb額(e)定值 2）Vbmax處(chu)Isec>=20*Isec額定 3）20*Isn額定處電流比差<=10% 4）Vb額(e)定值處電(dian)流比差<=10%

6.2 勵磁參數計(ji)算

在CT分析的(de)試(shi)驗結果展示界面，有一頁為(wei)勵(li)磁參(can)數和自動評估，其(qi)中(zhong)的(de)勵(li)磁參(can)數計算項目是由所選擇(ze)的(de)測試(shi)標準和互感器等級決定，其(qi)對應關系如(ru)表(biao)(biao)6.6，表(biao)(biao)6.7和表(biao)(biao)6.8所示。

表6.6 IEC60044-1 勵磁參數計算(suan)項目(mu)

參(can)數名(ming)稱(cheng)	參數說明	IEC60044-1計量類	IEC60044-1保護類
V-kn	電(dian)壓拐點(dian)，詳細定義見表6.9	√	√
I-kn	電(dian)流拐(guai)點，詳細(xi)定義見表(biao)6.9	√	√
Ek	PX級互感器(qi)準確(que)限制電壓		√
Ie	PX級互感器準確限制電流		√
FS	儀表安保系數	√
ALF	準確限值系數		√
Kx	PX級互感器定(ding)義(yi)的面積系數		√
Ls	飽和電感(gan)	√	√
Lu	不飽和(he)電(dian)感	√	√
Ts	二次時間(jian)常數	√	√
Kr	剩磁系數	√	√
Ktd	暫態(tai)面積系(xi)數		√

其中部分參數的(de)含義(yi)如下(xia)：

1）Ek 為IEC60041曲線拐點位置處的電動勢(shi)

2）Ie 為(wei)IEC60041曲線拐點位置處(chu)的勵(li)磁電流

3）FS儀器保(bao)安(an)系數是CT誤差達到10%時(shi)一次電流(liu)對額定(ding)電流(liu)的倍數，此參數僅對測量(liang)類(lei)互感器有效

4）準(zhun)確限值系數(shu)是(shi)指CT誤差達到5%或10%時一(yi)次電流對額定(ding)電流的倍數(shu)

5）Kx面積(ji)系(xi)數是指實(shi)測準(zhun)確限(xian)制系(xi)數對額定準(zhun)確限(xian)制系(xi)數的比值

6）Ls飽和(he)電感是指互(hu)感器在(zai)飽和(he)狀態(tai)下二(er)次線圈的等效電感，用于(yu)推算二(er)次回路在(zai)飽和(he)狀態(tai)下的時間常(chang)數(shu)

7）Lu不飽和電(dian)感是指互感器在非飽和情況下(xia)的二(er)次線圈等效電(dian)感，用于推算二(er)次回路在非飽和狀態下(xia)的時間常數(shu)

8）Kr是指(zhi)互(hu)感器線(xian)圈勵磁(ci)電流過零(ling)時，鐵芯中(zhong)剩(sheng)余(yu)的磁(ci)通量

表 6.7 IEC60044-6 勵磁參數計算項目

參(can)數名稱	參(can)數說(shuo)明	TPS	TPX/Y	TPZ
V-Kn	電壓拐點，詳細定義見表(biao)6.9	√	√	√
I-Kn	電流拐點，詳(xiang)細定義(yi)見表6.9	√	√	√
V-al	TPS級互感(gan)器定(ding)義的準確限(xian)制電壓	√
I-al	TPS級互感(gan)器定義的準確(que)限制電(dian)流(liu)	√
Kssc	實測的對稱短路(lu)電流系數(shu)
Eerror	電壓Emax處的峰瞬誤差		√
Emax	大電動勢		√
Ls	飽和電感	√	√	√
Lu	不(bu)飽和(he)電感(gan)	√	√	√
Ts	二次回路時間常數	√	√	√
Kr	剩磁系數	√	√	√
Ktd	實際(ji)計算得到的暫態面積(ji)系數		√	√

其中部分參數(shu)的含義如下：

1）V-al&nbsp;按照(zhao)IEC60046定義的曲(qu)線(xian)拐點位置(zhi)處的電動勢

2）I-al 按照IEC60046定義的曲線拐點(dian)位置(zhi)處的勵磁電流

3）Kssc 互感器一次回路(lu)中大(da)短路(lu)電流對額定(ding)一次電流的倍(bei)數

4）Emax互感器額定極限電動勢，此數值(zhi)有一(yi)次大短路電流(liu)，線圈內阻(zu)和二次負荷共(gong)同決(jue)定

5）Eerror 額(e)定極限電動勢處對應的互(hu)感器瞬時值測量誤(wu)差

表6.8 C57.13的勵(li)磁參數計算項目

參(can)數名稱	參數(shu)說明	C57.13計量類	C57.13保(bao)護類
V-kn	電壓拐點，詳細定義見表6.10	√	√
I-kn	電流拐點，詳細(xi)定義見表6.10	√	√
FS	儀表安保系數	√
ALF	準確限值系數		√
Kx	PX級(ji)互(hu)感器定(ding)義的面積系數		√
Ls	飽和電感(gan)	√	√
Lu	不飽和電(dian)感(gan)	√	√
Ts	二次時間常數	√	√
Kr	剩磁系數	√	√

6.3 拐(guai)點和磁化曲線定義

不(bu)(bu)同測試標準(zhun)的磁化曲(qu)線，拐(guai)點電壓和拐(guai)點電流的定義是不(bu)(bu)一(yi)樣的，詳細的定義說明如表6.9和表6.10所(suo)示。

表6.9 三種(zhong)測試標準的磁化曲線定義

標(biao)準名稱(cheng)	磁化曲線(xian)橫坐標	磁化(hua)曲線縱坐標
IEC60044-1	二(er)次端電壓有效(xiao)值(zhi)	勵磁電(dian)流(liu)有效值
IEC60044-6	電動勢電壓有效值	勵磁電流峰值
C57.13	電動勢電壓有效值	勵磁電流有(you)效值

表6.10 拐點定義

標準(zhun)名稱	拐點定義
IEC60044-1	勵磁曲線上(shang)(shang)二次端(duan)電(dian)壓上(shang)(shang)升10%，導致勵磁電(dian)流有效(xiao)值(zhi)上(shang)(shang)升超過50%的那個(ge)點
IEC60044-6	電動勢電壓上升(sheng)10%，導致勵磁(ci)電流峰值上升(sheng)超過50%的(de)那(nei)個(ge)點
C57.13	對(dui)(dui)于C57.13的(de)ANSI45拐點是指對(dui)(dui)于橫坐標(biao)(biao)正切(qie)為45度(du)角的(de)那個(ge)點，對(dui)(dui)于C57.13的(de)ANSI30拐點是指對(dui)(dui)于橫坐標(biao)(biao)正切(qie)為30度(du)角的(de)那個(ge)點

6.4 銘牌(pai)推測邏輯

CT分析儀的銘牌自動推測功能用于在銘牌部分信息未知時猜測銘牌的部分信息，推測的參數包括額定一次電流，額定二次電流和互感器等級。銘牌推測的所使用的順序和判斷條件如下：

1） 如果額(e)定二次電流未(wei)知，則根據(ju)當前(qian)所測得的線圈電阻大(da)小(xiao)與1A/5A判斷閾(yu)值(zhi)進行比較(jiao)（見(jian)系統參數設(she)置章節），如果小(xiao)于閾(yu)值(zhi)則將額(e)定二次電流設(she)為5A，否(fou)則設(she)為1A

2）根據實際(ji)測(ce)量獲得的(de)匝數比和額定(ding)二次電(dian)流值，對照當前所選擇標(biao)準對一次電(dian)流取(qu)值規(gui)則的(de)規(gui)定(ding)，猜(cai)測(ce)額定(ding)一次電(dian)流值。

3）互(hu)感器等級的猜測(ce)

為了猜測(ce)互感器(qi)的(de)等(deng)級首先需要判(pan)斷互感器(qi)鐵(tie)芯的(de)類(lei)型，根(gen)據(ju)1A或5A鐵(tie)芯判(pan)定閾(yu)值（見系統(tong)參數設(she)置章節(jie)）獲取當前鐵(tie)芯類(lei)型，如果(guo)飽和(he)電壓小(xiao)于閾(yu)值則為測(ce)量鐵(tie)芯否則為保護(hu)鐵(tie)芯。

如果猜測的互(hu)感器(qi)鐵芯為測量鐵芯，則儀器(qi)按照如下規則推測互(hu)感器(qi)等級(ji)。

1）如(ru)果選(xuan)擇的是(shi)IEC60044-1則分別對(dui)如(ru)下精(jing)度等(deng)級順(shun)序分進行自動評(ping)(ping)估，直至評(ping)(ping)估合格則為止，*個評(ping)(ping)估合格的等(deng)級就是(shi)互感器的精(jing)度等(deng)級

0.1->0.2S->0.2->0.5S->0.5->1.0->3.0->5.0

2）如果選擇(ze)的(de)(de)是C57.13則分別對(dui)如下精度(du)等級順序分進行自動評估(gu)，直至評估(gu)合(he)(he)格則為止(zhi)，*個(ge)評估(gu)合(he)(he)格的(de)(de)等級就是互感器的(de)(de)精度(du)等級

0.3->0.6->1.2

如果猜(cai)測的(de)鐵芯為(wei)保護鐵芯，則儀器按照如下(xia)規(gui)則推測互感器等級

1）如果選擇的(de)是(shi)IEC60044-1，則(ze)分(fen)別對(dui)如下等(deng)(deng)級順序分(fen)進行自動評估(gu)，直至評估(gu)合(he)格(ge)則(ze)為止，*個評估(gu)合(he)格(ge)的(de)等(deng)(deng)級就是(shi)互感器的(de)精度等(deng)(deng)級

5PR->10PR->PX->5P->10P

2）如(ru)果(guo)選擇(ze)的是(shi)IEC60044-6，則分(fen)別(bie)對如(ru)下等級順序分(fen)進行(xing)自動評(ping)估，直(zhi)至評(ping)估合格則為(wei)止，*個(ge)評(ping)估合格的等級就(jiu)是(shi)互(hu)感器(qi)的精度等級

TPY->TPX->TPZ->TPS

3）如果選擇的是C57.13，則分別對如下(xia)等級(ji)順序(xu)分進行自動(dong)評(ping)(ping)(ping)估(gu)(gu)，直至(zhi)評(ping)(ping)(ping)估(gu)(gu)合(he)格則為止，*個評(ping)(ping)(ping)估(gu)(gu)合(he)格的等級(ji)就是互感器(qi)的精度等級(ji)

K->C->T

第(di)七章(zhang) PC數據(ju)分析軟件(jian)

7.1 概述

分(fen)析(xi)儀的(de)產品光盤中包含2個(ge)PC應用(yong)(yong)程序(xu)(xu),數據分(fen)析(xi)軟件(jian)“CTPT ANALYZER FOR PC”和批量報(bao)告制(zhi)作工具“CTPT ANALYZER BULK REPORTS”，這2個(ge)應用(yong)(yong)程序(xu)(xu)都是免安裝的(de)綠色軟件(jian)，使用(yong)(yong)時將2個(ge)應用(yong)(yong)程序(xu)(xu)對應的(de)文件(jian)夾復制(zhi)到計算機硬(ying)盤即(ji)可(ke)。

7.2 數據分析軟(ruan)件

在分析儀(yi)的數(shu)據分析軟件中雙(shuang)擊“CTPT ANALYZER FOR PC”，出現如圖(tu)7.1所示數(shu)據分析軟件主界面(mian)。

分(fen)析(xi)(xi)儀(yi)的PC數據分(fen)析(xi)(xi)軟件(jian)操(cao)作與界(jie)面(mian)和儀(yi)器應用軟件(jian)基本*，其(qi)不同之處如下(xia)：

讀取文(wen)件(jian)時PC數(shu)據(ju)分(fen)析軟件(jian)需要(yao)用戶文(wen)件(jian)所(suo)在位(wei)置如(ru)圖7.2

保存文件時PC數據分析軟(ruan)件需要(yao)用戶(hu)文件存儲位置如(ru)圖(tu)7.2

曲(qu)線(xian)對比窗(chuang)口中讀(du)取參(can)考曲(qu)線(xian)時需要用戶參(can)考文件所在(zai)位置如圖7.2

曲(qu)線對比中復制圖片(pian)時需要(yao)用戶文(wen)件存儲位置如圖7.2

生成WORD報告時需(xu)要用戶文(wen)件存(cun)儲位(wei)置(zhi)如(ru)圖7.2

除以上所列(lie)不同之處(chu)外,數據(ju)分析軟(ruan)(ruan)件(jian)所有的(de)操作方法(fa)與儀器數據(ju)處(chu)理軟(ruan)(ruan)件(jian)**，詳細說(shuo)明請參照(zhao)儀器數據(ju)處(chu)理軟(ruan)(ruan)件(jian)說(shuo)明

7.3 批量(liang)報告制作工(gong)具

在儀(yi)器(qi)版本(ben)為V1.27.129以(yi)上(shang)的機型中，分(fen)析儀(yi)的產(chan)品(pin)(pin)光盤(pan)提供WORD報(bao)告(gao)批(pi)處理(li)應用程(cheng)序，此程(cheng)序可以(yi)實現一(yi)次性生成多(duo)個WORD報(bao)告(gao)文(wen)檔，在儀(yi)器(qi)產(chan)品(pin)(pin)光盤(pan)中雙擊CTPT分(fen)析儀(yi)批(pi)量報(bao)告(gao)制作工具文(wen)件夾下的“CTPT ANALYZER BULK REPORTS”，出現圖(tu)7.3所示(shi)窗口。

窗口中(zhong)各個按鈕和控件定義(yi)如下：

WORD報(bao)告批(pi)量生(sheng)成

點擊WORD報(bao)告批量生成時，進(jin)入(ru)報(bao)告配置(zhi)窗口(kou)如(ru)圖7.4所(suo)示，在(zai)該窗口(kou)中(zhong)可以添加，移除需(xu)要制作報(bao)告的(de)試驗(yan)文件(jian)。圖7.4窗口(kou)中(zhong)各個(ge)按鈕的(de)定義如(ru)下：

添加文件

點擊“添(tian)加文(wen)件(jian)”出現圖7.5所示(shi)的(de)試(shi)驗結果(guo)文(wen)件(jian)添(tian)加窗口，可以將試(shi)驗結果(guo)文(wen)件(jian)添(tian)加到(dao)WORD報告待生成隊列。

注意：圖7.5所示窗口中可以(yi)通過鼠標同時(shi)選擇多個文件

移除文件

點擊移除文(wen)件，將WORD報(bao)告待(dai)生(sheng)成隊(dui)列中(zhong)選中(zhong)的試驗結果文(wen)件從(cong)隊(dui)列中(zhong)移除

注(zhu)意：此(ci)項功(gong)能僅僅將試驗結果(guo)文件從隊列中(zhong)移除，并不會刪除計算(suan)機中(zhong)對應的試驗結果(guo)文件

移除所(suo)有文(wen)件

點擊移除(chu)所有(you)文件，清空WORD報(bao)告待生成隊列中所有(you)的試(shi)驗(yan)結果(guo)文件

注意(yi)：此項功能僅(jin)僅(jin)將試(shi)驗(yan)(yan)結果(guo)文件(jian)從隊(dui)列中移除，并不(bu)會(hui)刪除計算機中對應(ying)的試(shi)驗(yan)(yan)結果(guo)文件(jian)

批量生(sheng)成WORD報(bao)告

一次性(xing)生成WORD報告待(dai)生成隊列中所有的試驗結(jie)果文件

注意(yi)：當待生成隊列(lie)中文件的數量很(hen)多時，生成過程(cheng)(cheng)(cheng)會(hui)耗(hao)費很(hen)長的時間，在此過程(cheng)(cheng)(cheng)中應(ying)(ying)用軟件不(bu)能響應(ying)(ying)其(qi)他(ta)控制命令，如果此時需要(yao)終(zhong)止生成過程(cheng)(cheng)(cheng)，可(ke)以通過Ctrl+ALT+DEL關閉此應(ying)(ying)用程(cheng)(cheng)(cheng)序的進程(cheng)(cheng)(cheng)。

取(qu)消

退出(chu)WORD報告批(pi)量生成配置窗(chuang)口

試(shi)驗報告生成過程(cheng)控(kong)制

生(sheng)(sheng)成(cheng)WORD報告(gao)時包(bao)含磁滯回(hui)路曲線(xian)，此(ci)項被選中(zhong)時，在(zai)所有(you)的CT分析(xi)試驗(yan)結果(guo)文件的WORD報告(gao)中(zhong)會包(bao)含磁滯回(hui)路曲線(xian)及數據(ju)，這(zhe)樣的配置(zhi)會消耗較長的生(sheng)(sheng)成(cheng)WORD報告(gao)時間，否(fou)則這(zhe)些曲線(xian)和數據(ju)不會出現在(zai)這(zhe)些生(sheng)(sheng)成(cheng)的WORD報告(gao)中(zhong)并(bing)且生(sheng)(sheng)成(cheng)WORD報告(gao)時間較短

誤差曲線(xian)中(zhong)使用整數(shu)(shu)一次電流倍數(shu)(shu)，此項被選中(zhong)時，在(zai)所有的IEC60044-1保(bao)護類CT的試驗結果(guo)文件(jian)中(zhong)，誤差曲線(xian)數(shu)(shu)據會(hui)顯(xian)示整數(shu)(shu)一次電流倍數(shu)(shu)的數(shu)(shu)值

顯(xian)示(shi)簡化的勵磁數據，此項被選中(zhong)時，在所(suo)有的CT分析試(shi)驗結(jie)果文件的WORD報告中(zhong)顯(xian)示(shi)的磁化曲線(xian)為30個點(dian)，這樣可(ke)以縮短生成WORD報告的時間(jian)(jian)，否則顯(xian)示(shi)點(dian)數為實(shi)測點(dian)并且生成WORD報告的時間(jian)(jian)較長。

語言選擇

選擇此應用程序的語言環境(jing)，目前版本支持的語言為中文和英文

進(jin)度條

應用程序(xu)主(zhu)界(jie)面包(bao)含(han)2個(ge)進(jin)度(du)條(tiao)指示生(sheng)成(cheng)過程的(de)(de)狀態(tai)，位于主(zhu)程序(xu)上(shang)部的(de)(de)進(jin)度(du)條(tiao)是所有試驗結果文件WORD報(bao)告生(sheng)成(cheng)過程的(de)(de)總進(jin)度(du)指示，位于主(zhu)程序(xu)下部的(de)(de)進(jin)度(du)條(tiao)是單個(ge)試驗結果文件WORD報(bao)告生(sheng)成(cheng)過程的(de)(de)進(jin)度(du)指示。

第八章 附件清單

8.1 CTPT分析儀的標(biao)準(zhun)配(pei)置

CTPT分析儀的(de)標準配(pei)置(zhi)如表7.1所示(shi)：

名(ming)稱	數量	說明
CTPT分析儀主機	1
3M雙(shuang)芯帶屏(ping)蔽測試電纜	2	CT二次和(he)功(gong)率輸出(chu)連接線(xian)，每根電(dian)纜的(de)兩頭都帶(dai)有紅色(se)和(he)黑色(se)香蕉(jiao)頭，線(xian)徑大(da)于1.5MM
10M雙芯(xin)帶屏(ping)蔽測(ce)試電纜	1	CT一次連接(jie)線(xian)，每根電纜(lan)的兩頭(tou)都帶有紅色和黑色香蕉頭(tou)，線(xian)徑(jing)大于1.5MM
接地線	1
大號測試(shi)鉗	2	紅黑(hei)各2個
測試(shi)冷壓片(pian)	4	紅黑各2個
測試針	4	紅黑各2個
鱷魚夾	6	紅黑各3個
測試短接線	1	含6個連(lian)接頭，用于短(duan)接CT二次的剩余非測試繞(rao)組
PT勵磁試驗模塊	1	用于PT勵磁試(shi)驗
5A電源保(bao)險	3
供電電纜	1
附(fu)件(jian)包	1	放(fang)置測試(shi)的各種附件
產品光盤(pan)	1	包含(han)產品說明(ming)書和數據分析軟件
產品使用說明(ming)書	1
產品出(chu)廠檢測(ce)報告(gao)	1
合格證	1

附(fu)錄A. 低(di)頻法測試原理

IEC60044-6 標準(zhun)(zhun)（對應國家(jia)標準(zhun)(zhun)GB16847-1997）聲稱，CT 的測試可以在比額定頻率低的情況(kuang)下(xia)進行，避(bi)免繞(rao)組和二次(ci)端子承受(shou)不能容許的電壓。*的要(yao)求就(jiu)是(shi)，在鐵心(xin)上(shang)產生同樣(yang)大小(xiao)的磁通。

IEC60044-6 標準中(zhong)給出的(de)磁通計算公式：

其(qi)中，

R CT ：二次繞組電(dian)阻(zu)

U CT ：二次(ci)繞(rao)組端(duan)電壓

I CT ：二(er)次電流

Ψ0  ：初始交鏈(lian)磁通

Ψ(t)：t 時刻的(de)交(jiao)鏈磁通

定義鐵心電壓(ya)：

當鐵心電壓U C (t) 為正(zheng)弦(xian)信號(hao)時(shi)，有：

其(qi)中：

f ：為(wei)正弦信號(hao)頻(pin)率

可以看出，在(zai)相(xiang)同(tong)的大交鏈(lian)磁(ci)通Ψm 下，鐵心電(dian)壓(ya)與頻(pin)率成正比。因此，只要在(zai)鐵心上產生同(tong)樣大小的磁(ci)通，那(nei)么(me)CT的測試(shi)便可以在(zai)比額定(ding)頻(pin)率低的情況下進(jin)行(xing)，此時所(suo)(suo)需的鐵心電(dian)壓(ya)幅值要求也降低，二次繞組測試(shi)所(suo)(suo)需的端電(dian)壓(ya)也相(xiang)應(ying)降低。對低頻(pin)測試(shi)結果(guo)(guo)進(jin)行(xing)頻(pin)率折算后可以得到額定(ding)頻(pin)率下的CT測試(shi)結果(guo)(guo)。

附錄B.10%誤差(cha)曲線計算

電流互感器的(de)(de)誤差主(zhu)要是由于勵磁(ci)電流I0的(de)(de)存在(zai)(zai)，它使二(er)次(ci)電流I2與換算到(dao)二(er)次(ci)側后的(de)(de)一(yi)次(ci)電流I1′不(bu)但(dan)在(zai)(zai)數值上不(bu)相(xiang)等，而且相(xiang)位也不(bu)相(xiang)同(tong)，這就造成(cheng)了(le)電流互感器的(de)(de)誤差。

繼電(dian)保(bao)護要求電(dian)流互感(gan)器的(de)一次(ci)電(dian)流I1等于(yu)大短路電(dian)流時(shi)，其比值差(cha)小于(yu)或等于(yu)10％。在比值差(cha)等于(yu)10％時(shi)，二次(ci)電(dian)流I2 與換(huan)算到二次(ci)側后的(de)一次(ci)電(dian)流I1′以及勵(li)磁(ci)電(dian)流I0  之間滿足(zu)下述關系(xi)：

定義M 為(wei)一次側大(da)短路電流(liu)倍數，K 為(wei)電流(liu)互感器(qi)的變(bian)比，則有

?

其中(zhong)：

Z2  為電流(liu)互感(gan)器二次繞組阻抗(kang)

E0  為(wei)電流互(hu)感器二次繞組(zu)感應電動勢E0和I0的關(guan)系由勵磁特(te)性曲線描述。

根據(ju)上述算式(shi)，后(hou)可(ke)以得(de)到用大短路電流倍數M 和允許的大負荷阻抗ZB描(miao)述的10％誤差(cha)曲

5%誤(wu)(wu)差(cha)曲(qu)線的(de)(de)計(ji)算(suan)方式(shi)與10%誤(wu)(wu)差(cha)曲(qu)線計(ji)算(suan)方式(shi)*，只(zhi)是(shi)誤(wu)(wu)差(cha)點從(cong)10%變成(cheng)了(le)5%。對于5P/5PR的(de)(de)電流互感(gan)器通常計(ji)算(suan)5%誤(wu)(wu)差(cha)曲(qu)線，對于10P/10PR的(de)(de)保護(hu)類電流互感(gan)器通常計(ji)算(suan)10%誤(wu)(wu)差(cha)曲(qu)線。